先測試出可控矽的峰值電壓，將電線正負(fù)極連接至K兩極，接地線接至室內(nèi)主接地上，逐漸升壓，測試其漏電流數(shù)值。進(jìn)行漏電測試後，逐漸升壓，觀測漏電流，當(dāng)數(shù)值超過其額定峰值電壓後，可控矽被擊穿，但采用此方法可能會破壞其PN結(jié)，並且隻能測試其是否導(dǎo)通，而不能測試其導(dǎo)通是否良好，故不再采用此法進(jìn)行測試。搖表測試法用搖表對可控矽進(jìn)行測量，參照之前使用的漏電檢測法。為防止搖表法測試過程中擊穿或損壞可控矽，改變搖表操作方法，即要對搖表電壓和轉(zhuǎn)速進(jìn)行控製，兩筆端鏈接K極對其進(jìn)行測試。
HN6000A四通道變頻抗乾擾高壓介質(zhì)損耗測試儀  遠(yuǎn)見 青島華能HN6000 介損測試儀 變壓器特性測試儀

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備。可以測量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用於電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

抗乾擾介損自動測試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準(zhǔn)確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗乾擾指標(biāo)： 變頻抗乾擾，在200%乾擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
    3、電容量範(fàn)圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg範(fàn)圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識彆。
    5、試驗(yàn)電流範(fàn)圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓範(fàn)圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗(yàn)頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻程控測量放大器比測量放大器增加了模擬開關(guān)及驅(qū)動電路。增益選擇開關(guān)Sl—S'l，S2—S'2，S3—S'3成對動作，每一時刻僅有一對開關(guān)閉合，當(dāng)改變數(shù)字量輸入編碼時，則可改變閉合的開關(guān)號，選擇不同的反饋電阻，相當(dāng)於自動改變測量放大器中電位器R1的阻值，達(dá)到改變放大器增益的目的。下圖為集成程控測量放大器電路芯片LH0084的內(nèi)部電路原理圖。一方麵通過接線選擇運(yùn)算放大器A3的反饋電阻來確定放大器的基礎(chǔ)放大倍數(shù)，另一方麵通過控製模擬開關(guān)實(shí)現(xiàn)放大倍數(shù)的自動控製。
    頻率準(zhǔn)度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時試驗(yàn)電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時試驗(yàn)電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A遠(yuǎn)見 青島華能HN6000 介損測試儀 變壓器特性測試儀在大多HIL係統(tǒng)中一個關(guān)鍵組成部分是自動故障仿真，PickeringInterfaces看到了用於多數(shù)量IO的ECU測試的高密度故障注入開關(guān)需求越來越大，尤其在自動化和航天工業(yè)方麵。BobStasonis先生繼續(xù)談到：Pickering經(jīng)常根據(jù)客戶的需求將開關(guān)密度做到極限，高密度開關(guān)模塊的新趨勢包括日益增長的帶寬需求和在一些市場尤其是半導(dǎo)體工業(yè)上，對隔離電阻的驗(yàn)證。目前，我們平均的隔離電阻規(guī)範(fàn)為10^9Ω。