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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡單介紹:
衝擊測試係統(tǒng)係應用於諸如電力變壓器、比成器、高壓開關及電力電纜等高壓器材的衝擊電壓試驗。此種測試係依據(jù)相關的國際標準規(guī)範執(zhí)行全波(full)或截斷(chopped) 的閃電突波(L.I)直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應
詳情介紹:

安規(guī)測試儀檢定裝置有以下幾種 直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應

直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應HN8061A兆歐表檢定裝置


依據(jù)JJG1005—2005《電子式絕緣電阻表檢定規(guī)程》、JJG622—1997《絕緣電阻表(兆歐表)檢定規(guī)程》,用於檢定電子式絕緣電阻表的示值誤差、跌落電壓、短路電流。
電壓分兩檔:0500V  05000V  -10000V
 短路電流:02mA    020mA
電阻0-200G-1T-10TAPD的工作模式分為線性模式和蓋革模式兩種。當APD的偏置電壓低於其雪崩電壓時,對入射光電子起到線性放大作用,這種工作狀態(tài)稱為線性模式。在線性模式下,反向電壓越高,增益就越大。APD對輸入的光電子進行等增益放大後形成連續(xù)電流,獲得帶有時間信息的激光連續(xù)回波信號。當偏置電壓高於其雪崩電壓時,APD增益迅速增加,此時單個光子吸收即可使探測器輸出電流達到飽和,這種工作狀態(tài)稱為蓋革模式。工作在蓋革模式下的APD又被稱作SPAD。

HN8062A接地電阻表校驗裝置

直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應用於檢定JJG336-2004《接地電阻表檢定規(guī)程》所適用的我目前生產(chǎn)的型號的模擬式、數(shù)字式接地電阻表以及進口的同類儀表,也可做普通電阻箱使用,具有調節(jié)範圍寬,使用方便,造型美觀等優(yōu)點。是世界上產(chǎn)量的化學產(chǎn)品之一,其生產(chǎn)能力是衡量一個石油化工發(fā)展水平的重要標誌。裂解爐是生產(chǎn)裝置的核心設備,將天然氣、原油等各類原材料加工成裂解氣,提供給其它裝置,終加工成、丙烯及副產(chǎn)品,其生產(chǎn)能力及技術的高低,直接決定了整套裝置的生產(chǎn)規(guī)模和產(chǎn)品品質。在裂解過程中,由於二次反應,裂解爐管內壁上和急冷換熱器的管內壁上會產(chǎn)生結焦現(xiàn)象。隨著裂解的進行,焦量不斷增加,直接影響管壁的導熱性能,造成局部過熱而燒壞設備,甚至堵塞爐管,引起事故。


HN8063A耐電壓測試儀校驗裝置

1、測量準度: 

電壓:1000v  2500v  5000v  10000v  30000v

準度:1級  0.5級  0.2級顯示的是FLIR校準實驗室裡1/4圈的21個以上腔式黑體。實驗室測量值的不確定性包括將校準熱像儀指向校準的黑體,並畫出隨時間變化的溫度變化。雖然經(jīng)過仔細的校準,但在測量中總會出現(xiàn)一些隨機誤差。所產(chǎn)生的數(shù)據(jù)集可以對精度和性進行量化。請參見的校準黑體測量值結果。.觀測37?C黑體時典型FLIRA325sc紅外熱像儀的響應值。的圖形顯示的是FLIRA325sc紅外熱像儀在室內距離0.3米觀測37?C黑體的2小時以上的數(shù)據(jù)結果。


HN8065A型泄漏電流測試儀檢定裝置

一、性能特點

1、源、表測量範圍:

       電壓源(ACDC):電壓:250V、50V5V

       電流源(AC,DC):20mA、2mA

       頻率計:10-100Hz有些測溫場合,將熱電偶電極直接焊於通電加熱的金屬件上,由於金屬件在平行於電流方向的各點存在電位差,這時引入的乾擾電壓也是很大的。在高溫狀態(tài)下,耐火材料的絕緣電阻急劇下降,熱電偶的保護管絕緣性能也會下降,則電源電壓通過耐火磚、熱電偶套管等泄漏到熱電偶絲上,在熱電偶電極與地之間產(chǎn)生乾擾電壓。大地中各個不同點之間往往存在電位差,特彆是在大功率用電設備附近,當這些設備的絕緣性能下降時,電位差更大。而現(xiàn)場儀表在使用中,有時不注意會使回路存在兩個以上的接地點,就會把不同接地點的電位差引入到數(shù)顯表中而形成共模乾擾。

HN8066A型接地導通電阻測試儀檢定裝置

2、一次額定電流:25A、2.5A。(30A3A)

3、電阻四盤連續(xù)帶電可調。

4、直接指示一次電流值,可做交直流大電流標準表用。半導體材料研究和器件測試通常要測量樣本的電阻率和霍爾電壓。半導體材料的電阻率主要取決於體摻雜,在器件中,電阻率會影響電容、串聯(lián)電阻和閾值電壓。霍爾電壓測量用來推導半導體類型(n還是p)、自由載流子密度和遷移率。為確定半導體範德堡法電阻率和霍爾電壓,進行電氣測量時需要一個電流源和一個電壓表。為自動進行測量,一般會使用一個可編程開關,把電流源和電壓表切換到樣本的所有側。A-SCS參數(shù)儀擁有4個源測量單元(SMUs)和4個前置放大器(用於高電阻測量),可以自動進行這些測量,而不需可編程開關。

HN8068A型回路電阻測試儀,直流電阻測試儀檢定裝置

一次額定電流:

1A、10A、100A200A、300A、600A


電阻盤0、12、3……20帶電可調。

直接指示一次電流值,可做直流大電流標準表用。

直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應幸運的是,大多數(shù)現(xiàn)代測試係統(tǒng)都基於PC或PXI,可以直接連接到企業(yè)係統(tǒng),從而實現(xiàn)額外的功能,如管理軟件和硬件組件、跟蹤使用情況以及執(zhí)行性維護,從而限度地提高測試投資的價值。接入和管理數(shù)據(jù)物聯(lián)網(wǎng)的商業(yè)價值來自互聯(lián)係統(tǒng)生成的海量數(shù)據(jù)。然而,由於存在數(shù)據(jù)格式和來源,有效利用測試數(shù)據(jù)變得非常困難,從時域和頻域的原始模擬和數(shù)字波形到參數(shù)測量等數(shù)據(jù)通常以遠高於消費者或工業(yè)設備的速度和數(shù)量進行采集。更糟糕的是,測試數(shù)據(jù)通常存儲在冇有標準化的“孤島”(silos)中。直流電阻測試儀校驗儀 數(shù)字高壓表 HN係列 絕緣電阻表檢定裝置 大量供應

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