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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗 

JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關(guān)櫃進行試驗的要求。在ISO882-5_27及ISO882-1_25的道路車輛熔斷器國標中,對熔斷器的參數(shù)定義及測試指標做了詳細的說明。完整的絲相關(guān)測試包含導(dǎo)通壓降測試,熔斷時間,級進電流及分段能力測試。本文主要以SF3和SF51為待測對象,重點介紹熔斷時間測試。熔斷時間實驗要求下圖摘自ISO882-1_27國標中針對SF3和SF51的熔斷測試要求,熔斷時間需在過載電流從1.1IR~6.IR範(fàn)圍內(nèi)測試,當(dāng)過載電流越大,熔斷時間越快。

JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範(fàn)圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應(yīng)滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

本係統(tǒng)具備CW信號、通用矢量信號模擬和;具備NPSS、NSSS、NPBCNPDCCNPDSCH等NB-IOT物理信道解調(diào);、34G等標準通信信號解析等功能??梢蕴峁┠壳靶袠I(yè)急需的NB-IOT移動物聯(lián)信號模擬功能,支持用戶的仿真數(shù)據(jù)導(dǎo)入,提供同步方式,驗證物聯(lián)設(shè)備的接收性能;同時係統(tǒng)支持當(dāng)前NB-IOT移動物聯(lián)信號提供多域解析測試,解決目前行業(yè)NB-IOT物聯(lián)信號進行合格性判彆和驗證難題。JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗VOCs檢測技術(shù)的日新月益對VOCs的檢測、監(jiān)控、減排有很大的促進作用。本次為您介紹常用的VOCs檢測技術(shù)。實驗室VOCs檢測VOCs實驗室發(fā)展較早,也比較成熟。方法為使用采樣袋、蘇碼罐、吸附劑或吸收液將VOCs采集回實驗室,再經(jīng)過熱解析、溶劑解析等前處理過程後,利用GC或HPLC。實驗室VOCs檢測主要難點在於選擇合適的采樣方法保證可以采集到所有揮發(fā)性有機汙染物,製定規(guī)範(fàn)的運輸方案防止運輸過程中VOCs的損失,選擇合適的前處理過程保證所有的揮發(fā)性有機物進入儀器。JP櫃溫升試驗裝置HNDL 溫升試驗設(shè)備 容量大 30年經(jīng)驗


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