HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗(yàn)係統(tǒng) 配電箱大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修 

聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開關(guān)櫃進(jìn)行試驗(yàn)的要求。靈敏度與準(zhǔn)確度測(cè)量輸出變化與標(biāo)準(zhǔn)值變化之間的關(guān)係稱為靈敏度。理想情況下這種關(guān)係呈現(xiàn)為線性，但在實(shí)際操作中所有測(cè)量均會(huì)存在某些瑕疵或不確定性。被測(cè)值與與標(biāo)準(zhǔn)值的一致性通常簡(jiǎn)單地稱為“準(zhǔn)確度”，但這是一個(gè)略微模糊的術(shù)語(yǔ)。嚴(yán)格定義的準(zhǔn)確度通常包括重複性。重複性指在測(cè)量條件不變的情況下，儀器在重複測(cè)量時(shí)能夠達(dá)到相似測(cè)量結(jié)果的能力(見)。但是其可能包含也可能不包含濕滯、溫度依賴性、非線性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性。重複性本身通常是測(cè)量不確定性的次要來(lái)源，如果精度規(guī)範(fàn)不包含其它不確定性，則其可能會(huì)造成對(duì)實(shí)際測(cè)量性能的錯(cuò)誤印象。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC範(fàn)圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)櫃及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少於24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

所述存儲(chǔ)所述第n個(gè)補(bǔ)償餘數(shù)具體包括：用第n個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)覆蓋第n-1個(gè)補(bǔ)償周期的補(bǔ)償餘數(shù)。一種應(yīng)用在電能表中RTC模塊的補(bǔ)償校準(zhǔn)裝置，包括：溫度測(cè)量模塊，用於根據(jù)測(cè)量的RTC模塊的晶體溫度獲取時(shí)鐘校準(zhǔn)所需的補(bǔ)償參數(shù)；控製模塊，用於根據(jù)所述補(bǔ)償參數(shù)和RTC模塊的補(bǔ)償單位計(jì)算補(bǔ)償校準(zhǔn)值和補(bǔ)償餘數(shù)，並根據(jù)所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值和所述補(bǔ)償餘數(shù)對(duì)RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)。所述控製模塊，具體用於在個(gè)補(bǔ)償周期中，按照所述補(bǔ)償校準(zhǔn)值對(duì)所述RTC模塊的時(shí)鐘頻率進(jìn)行校準(zhǔn)，並將所述補(bǔ)償餘數(shù)存入存儲(chǔ)模塊；所述存儲(chǔ)模塊，用於存儲(chǔ)所述補(bǔ)償餘數(shù)。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

配電箱大電流發(fā)生器HNDL 大電流衝擊試驗(yàn)裝置 容量大 5年保修當(dāng)被測(cè)表麵粗糙度值大於Ra=0.8μm時(shí)，隨著粗糙度值的增大，被測(cè)表麵對(duì)壓頭的抗力愈小，其塑性變形愈大，圓形壓痕就愈大，相應(yīng)的硬度值也就愈小，致使測(cè)量值偏低於其真實(shí)值。試驗(yàn)證明，測(cè)量偏差在10HB以上（注：用臺(tái)式硬度計(jì)測(cè)量洛氏硬度時(shí)，粗糙度的影響較小，本文就不進(jìn)行了）。當(dāng)我們用便攜式微電腦超聲硬度計(jì)測(cè)量硬度時(shí)，粗糙度的影響較用臺(tái)式硬度計(jì)就更大了。當(dāng)被測(cè)表麵粗糙度值大於Ra=0.8μm時(shí)，隨著粗糙度值的增大，硬度計(jì)的金剛石角錐體壓頭與被測(cè)表麵的接觸麵積就會(huì)增大。