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產品詳情
  • 產品名稱:JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗

  • 產品型號:HNDL
  • 產品廠商:華能
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簡單介紹:
適用於JP櫃,配電箱溫升試驗,電力係統(tǒng)技術人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用於開關,電纜、直流電流傳感器和其它電器設備作電流負載試驗及溫升試驗。JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗
詳情介紹:

HNDL800 JP櫃 配電箱溫升試驗係統(tǒng) JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗 

JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗
聯(lián)係人車高平13608980122/15689901059用於箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗。溫升試驗裝置技術性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗標準對開關櫃進行試驗的要求。二維傅裡葉變換Lamb波在時間和空間上都可以通過二維傅裡葉變換轉換為二維各個離散頻率點的頻率G波數(shù)能量譜,從而分解出單個Lamb波,並可對其幅值進行測量。單個波動組分在時間上的頻度稱為頻率,而在空間(距離)上的頻度稱為波數(shù).由頻率波數(shù)譜中某個波動組分的頻率和波數(shù),可以確定周期和波長。通過對接收信號的二維傅裡葉變換,與理論計算得到的波數(shù)G頻率的頻散曲線進行對比,從而確定檢測信號中包含的Lamb波模態(tài)。

JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗1.2 技術參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC範圍 0到額定電流,連續(xù)可調, 且該輸出電流為真有效值(指負載被試開關櫃及相關標準規(guī)定的試驗附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時間應滿足工作時間要求)

輸出波形:標準正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調

工作時間:大電流輸出不少於24小時

輸出相數(shù):三相  多路

怎麼用頻譜儀測量微弱信號?本文將分為兩部分來為大家講解。怎麼用頻譜儀測量微弱信號–RBW篇2.怎麼用頻譜儀測量微弱信號–輸入衰減器篇怎麼用頻譜儀測量微弱信號–RBW篇頻譜儀的主要用途之一是搜索和測量微弱電平信號。這種測量的終限製是頻譜儀自身產生的噪聲。這些由電路元件的隨機電子運動產生的噪聲經(jīng)過儀多級增益的放大後作為噪聲信號出現(xiàn)在顯示屏上。該噪聲在頻譜儀裡通常稱為顯示平均噪聲電平(DANL),也俗稱為頻譜儀的底噪或者靈敏度。JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調節(jié)器

1

JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗如果采用傳統(tǒng)的單機測試方式,就存在工況轉換的銜接過程,難以進行仿真與測試,這樣的銜接過程往往是係統(tǒng)容易產生故障的環(huán)節(jié)。正因如此,就需要一個軟硬件結合的電源自動化測試係統(tǒng)來完成對航天電源係統(tǒng)性能的測試。傳統(tǒng)的電源測試係統(tǒng)由於通用性低,價格昂貴且難於操作維護,已經(jīng)不能滿足日益發(fā)展的航天電源係統(tǒng)的測試需求,需要有一套可以同時具有高靈活度、高度、高性價比、高可操作性等特點於一身的電源測試係統(tǒng)來適應行業(yè)的發(fā)展,這樣的係統(tǒng)是測試航天電源比較理想的選擇方案,在航天電源測試評估領域也有廣泛的應用前景。JP櫃多回路溫升試驗係統(tǒng)HNDL 配電箱溫升試驗設備 容量大 30年經(jīng)驗


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