HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 青島華能供應(yīng) 交流采樣變送器檢定裝置 用心品質(zhì)

本裝置是按照檢定規(guī)程JJG126－95《交流電量變換為直流電量電工測量變送器檢定規(guī)程》、JJG124－2005《電流表、電壓表、功率表和電阻表檢定規(guī)程》、JJG307-2006《機電式電能表檢定規(guī)程》的要求而設(shè)計的三相0.05級表源裝置?？勺詣踊蚴謩訖z驗電力係統(tǒng)中工頻電表（電壓表、電流表、功率表、頻率表、功率因數(shù)表、相位表）、單相交流電能表（選項）、三相交流電能表（選項）以及直流電壓、電流表的基本誤差。半導體生產(chǎn)流程由晶圓製造，晶圓測試，芯片封裝和封裝後測試組成，晶圓製造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下麵集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、製造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成製程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard紮在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控製測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey後，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
 技術(shù)參數(shù)：

交流電壓量程：57.7V，100V，220V，380V，500V 每檔輸出容量： 20VA；

      交流電流量程：0.5A，1A ，2.5A，5A，10A，20A 大輸出容量 20VA；

      交流電壓、電流調(diào)節(jié)範圍：0～123%， 調(diào)節(jié)細度 5×10－5；

      工頻交流電壓、電流、有功功率準確度：0.05% FS；

      無功功率的準確度：0.1% FS；其中，該被測係統(tǒng)主要采用芯片LMR14050SSQDDARQ1輸出5V/5A，並給後續(xù)芯片TPS65263QRHBRQ1供電，同時輸出1.5V/3A，3.3V/2A以及1.8V/2A。這兩個芯片都工作在2.2MHz的開關(guān)頻率下。另外，圖中顯示的傳導EMI標準是CISPR25Class5。有關(guān)該係統(tǒng)的更多信息，請查閱應(yīng)用筆記SNVA810。C5標準下的噪聲特性（無濾波器）顯示了增加一個DM濾波器後的EMI結(jié)果。

      電流對相電壓的相位準確度：0.050；

      頻　率　　調(diào)節(jié)範圍：45～65HZ， 調(diào)節(jié)細度 0.001HZ，調(diào)定值準確度 5×10－5；

      相　位　　調(diào)節(jié)範圍：0～359.990，調(diào)節(jié)細度 0.010；

      交流電壓、電流輸出波形失真度：≤0.3%；

      交流電壓、電流及功率輸出穩(wěn)定度： ≤0.01% FS/100s；

      諧波2～21次，幅度0～20%，次諧波相位細度0.010·N（N為諧波次數(shù)）；

      直流電壓量程：75、150、300、500V，每檔輸出容量100mA；

      直流電流量程：0.5、1、2.5、5、10、20A ，大輸出容量20VA；

     青島華能供應(yīng) 交流采樣變送器檢定裝置 用心品質(zhì)為什麼差距會這麼大？我們到底改了什麼？下麵我們詳細。，可以從張圖中看到，PA31的“保持”指示燈亮著，此時打開了保持功能，也就是說儀器上顯示的數(shù)據(jù)是值，而不是實時數(shù)據(jù)。其次在排電流顯示窗口，冇有看到電流值，而在排功率顯示窗口中卻有功率數(shù)據(jù)，由此可知電流量程選擇太大，這樣會給測量帶入更大的量程誤差。除了儀器本身的設(shè)置對測試結(jié)果會造成影響外，重要的還是接線方式。我們知道測試待機功率時，電流值非常小，所以功率很小。