天下武功，唯快不破。在保證**的基礎(chǔ)上盡可能提高測(cè)試效率也是T/R組件測(cè)試領(lǐng)域不變的追求和目標(biāo)。當(dāng)然，提高測(cè)試效率的方法有很多，提高測(cè)試儀器儀表的性能（提高掃描速度和增加測(cè)試功能等）、簡(jiǎn)化連接和校準(zhǔn)過(guò)程以及優(yōu)化測(cè)試程序和工藝等。還有沒(méi)有其它辦法呢？那就是并行測(cè)試，這也是當(dāng)今自動(dòng)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的重要趨勢(shì)和方向之一。所謂并行測(cè)試就是充分利用測(cè)試儀器和測(cè)試通道等資源，按照一定的調(diào)度規(guī)劃同時(shí)執(zhí)行多個(gè)測(cè)試任務(wù)，從而提高測(cè)試效率。
HN10A互感器特性綜合測(cè)試儀全自動(dòng)互感器測(cè)試儀 CT綜合儀 微型互感器校驗(yàn)儀

功能簡(jiǎn)介：

測(cè)試互感器：PT、CT（保護(hù)類、計(jì)量類）、伏安特性（勵(lì)磁特性）曲線、自動(dòng)給出點(diǎn)值、自動(dòng)給出5%和10%的誤差曲線、變比測(cè)量、比差測(cè)量、相位（角差）測(cè)量、極性判斷、一次通流測(cè)試、交流耐壓測(cè)試、二次負(fù)荷測(cè)試、二次繞組測(cè)試、鐵心退磁等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測(cè)量范圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測(cè)量準(zhǔn)度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實(shí)際負(fù)荷測(cè)量范圍：5～300VA

7、二次實(shí)際負(fù)荷測(cè)量準(zhǔn)度：≤0.5%±0.1VA標(biāo)準(zhǔn)：DIN4839測(cè)試項(xiàng)目：汽車電子的引擎啟動(dòng)測(cè)試說(shuō)明：該測(cè)試波形對(duì)電源的電壓上升、下降有嚴(yán)格要求，而全天科技可編程直流電源在此項(xiàng)上擁有，完全能夠滿足測(cè)試需求。輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)：ISO1675-2測(cè)試項(xiàng)目：汽車電子的引擎啟動(dòng)測(cè)試說(shuō)明：該測(cè)試波形與DIN4839標(biāo)準(zhǔn)下的測(cè)試波形類似，在中間部分增加一段交流成分的測(cè)試，更加真實(shí)的模擬引擎啟動(dòng)測(cè)試。輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)：ISO1675-2測(cè)試項(xiàng)目：汽車電子的引擎啟動(dòng)測(cè)試說(shuō)明：該測(cè)試波形用來(lái)模擬汽車復(fù)雜電路中熔斷器后，其他電路的電壓瞬時(shí)跌落對(duì)于電子設(shè)備的沖擊。

軟件使用說(shuō)明 

11.1 將配套光盤(pán)放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤(pán)根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打開(kāi)“伏安特性”文件夾，選擇打開(kāi)“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機(jī)操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語(yǔ)言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲(chǔ)試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤(pán)連接至計(jì)算機(jī)。

b）、在圖38中選擇打開(kāi)“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說(shuō)明：以“A”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為勵(lì)磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開(kāi)頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖40界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.7 載入完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請(qǐng)先上次載入的數(shù)據(jù)。

回想您過(guò)去作為工程師的一年：您的角色發(fā)生了何種變化？過(guò)去五年又發(fā)生了哪些變化？隨著技術(shù)變革的步伐不斷加快，您必須調(diào)整工作的各個(gè)方面，并提率。一起拜讀下這篇來(lái)自NI產(chǎn)品營(yíng)銷經(jīng)理JonahPaul的LabVIEWNXG優(yōu)勢(shì)盤(pán)點(diǎn)好文。在Aspencore（前稱UBM）2015年進(jìn)行的一項(xiàng)測(cè)試測(cè)量研究中，包括半導(dǎo)體、汽車、國(guó)防和航天在內(nèi)的多個(gè)行業(yè)的工程師列出以下幾個(gè)方面為其測(cè)試開(kāi)發(fā)演變過(guò)程中主要的變化：“適應(yīng)快速變化的技術(shù)，為終端用戶提供測(cè)試能力和價(jià)值。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡(jiǎn)介：

1 勵(lì)磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時(shí)的比差、角差測(cè)量

5 CT二次繞組電阻測(cè)量

6 CT二次回路負(fù)荷測(cè)量

7 CT暫態(tài)特性測(cè)試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測(cè)量校核型號(hào)的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級(jí)暫態(tài)CT、勵(lì)磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級(jí)PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時(shí)間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測(cè)量.

自動(dòng)給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時(shí)間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級(jí)、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測(cè)量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測(cè)量范圍：1~30000
■ PT變比測(cè)量范圍：1~30000全自動(dòng)互感器測(cè)試儀 CT綜合儀 微型互感器校驗(yàn)儀顯然，更高的集成度在不影響性能的同時(shí)，可以降低器件尺寸、功耗以及雷達(dá)芯片的成本。，NXP（恩智浦）便率先將MCU集成進(jìn)入了其RFCMOS中。TI更進(jìn)了一步，將DSP也集成到了同一顆芯片中。Malquin表示，DSP的集成非常關(guān)鍵，它通過(guò)改善功耗使器件尺寸降低了近6%。此外，DSP是目標(biāo)探測(cè)和分類信號(hào)處理鏈的核心。確實(shí)，Wasson舉例稱TI毫米波傳感器通過(guò)內(nèi)置的DSP，實(shí)現(xiàn)了物體跟蹤和分類，以及人數(shù)統(tǒng)計(jì)。