有功功率的精度在DC以及6Hz時(shí)為.2%rdg.、1kHz時(shí)為.15%rdg.、1kHz時(shí)為.9%rdg.，實(shí)現(xiàn)了到1MHz的功率測(cè)量帶寬，以高精度覆蓋PWM的頻率范圍。體現(xiàn)同相電壓噪音耐性的CMRR性能在1kHz時(shí)達(dá)到8dB，強(qiáng)化了在噪音環(huán)境下的穩(wěn)定性。組合電流傳感器是從1994年開(kāi)始由HIOKI提供的傳統(tǒng)的高性能機(jī)型，是組合了磁通門(mén)和零磁通方式的AC/DC機(jī)型。重視精度的貫通型覆蓋5A額定到1A額定，兼具精度和便利性的鉗型覆蓋2A額定到5A額定，可在5W級(jí)別到5kW級(jí)別范圍內(nèi)，根據(jù)測(cè)量系統(tǒng)自由選擇使用。

HN6200A大型地網(wǎng)接地電阻測(cè)試儀

地網(wǎng)接地電阻測(cè)試儀 華能牌三相變比組別測(cè)試儀 大量供應(yīng)  本儀器是測(cè)量地網(wǎng)接地電阻和接地點(diǎn)之間的接地導(dǎo)通的儀器。儀器采用變頻抗干擾技術(shù)，不需大電流測(cè)量，能在變電站強(qiáng)干擾環(huán)境下測(cè)得50Hz的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)，測(cè)量結(jié)果由大屏幕液晶顯示，自帶微型打印機(jī)可打印輸出。儀器能測(cè)量接地阻抗和接地電阻，更能真實(shí)反映地網(wǎng)的實(shí)際特性。一個(gè)捕獲周期包括采樣時(shí)間和死區(qū)時(shí)間，模擬信號(hào)通過(guò)ADC采樣量化變轉(zhuǎn)為數(shù)字信號(hào)同時(shí)存儲(chǔ)，整個(gè)采樣存儲(chǔ)過(guò)程的時(shí)間稱為采樣時(shí)間。示波器必須對(duì)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量運(yùn)算顯示等處理，才能開(kāi)始下一次的采樣，這段時(shí)間稱為死區(qū)時(shí)間。死區(qū)時(shí)間內(nèi)，示波器并沒(méi)有進(jìn)行波形采集。一個(gè)捕獲周期完成就會(huì)進(jìn)入下一個(gè)捕獲周期。捕獲周期的倒數(shù)就是波形刷新率，如.1中所示，波形刷新率=1/(Tacq+Tdeat)。.1示波器采樣過(guò)程示意圖影響波形刷新率的因素有哪些?采樣時(shí)間和死區(qū)時(shí)間如.1中所示，波形刷新率為T(mén)acq(采樣時(shí)間)和Tdeat(死區(qū)時(shí)間)的倒數(shù)，其中采樣時(shí)間由示波器屏幕的采樣窗格決定，用水平時(shí)基檔位乘以水平方向格數(shù)，當(dāng)水平時(shí)基確定后，采樣時(shí)間就會(huì)固定。

◆大型地網(wǎng)接地電阻測(cè)試儀 產(chǎn)品特點(diǎn)
    1、測(cè)量的工頻等效性好。測(cè)試電流波形為正弦波，頻率與工頻相差更小0.25Hz，為5Hz?？捎糜?0hz或60hz兩種頻率進(jìn)行測(cè)量。
    2、測(cè)量精度高?；菊`差0.005Ω，可用來(lái)測(cè)量接地阻抗更小的大地網(wǎng)。
   3、功能強(qiáng)大?？蓽y(cè)量電流樁，電壓樁，地網(wǎng)阻抗、接地電阻，接地導(dǎo)通、土壤電阻率等。
    技術(shù)參數(shù)
   1、測(cè)量范圍：0～5000Ω
   2、分 辨 率：0.001mΩ
   3、測(cè)量誤差：±（讀數(shù)×2％+0.005Ω）
   4、抗工頻50Hz 電壓干擾能力：10V
   5、測(cè)試電流波形：正弦波
   6、測(cè)試電流頻率：?jiǎn)晤l：40-70Hz 分辨率0.01Hz 隨意設(shè)置
              雙頻：50±0.25Hz 到 50±5.0Hz 步進(jìn)0.25Hz
                  60±0.25Hz 到 60±5.0Hz 步進(jìn)0.25Hz

測(cè)試操作步驟

1） 檢查用于試驗(yàn)的電流線、電壓線和地網(wǎng)線是否有斷路現(xiàn)象（可以用萬(wàn)用表測(cè)量），地樁上的鐵銹是否干凈，其埋進(jìn)深度是否合適（>0.5米），同時(shí)檢查測(cè)試線與地樁的連接是否導(dǎo)通，如未導(dǎo)通，請(qǐng)?zhí)幚砗笾匦逻B接。

2） 電流測(cè)試線與電壓測(cè)試線的長(zhǎng)度比為1：0.618，電流測(cè)試線的長(zhǎng)度應(yīng)是地網(wǎng)對(duì)角線的3—5倍。

3） 電流測(cè)試線和電壓測(cè)試線按規(guī)定的長(zhǎng)度將一端與儀器相接后平行放出。另一端分別接在兩支地樁上（如圖2所示）。

4） 將已放好的測(cè)試線檢查一遍，將萬(wàn)用表一端接電流線或電壓線，另一端接地網(wǎng)線如無(wú)阻值顯示即為斷路，確認(rèn)完好再進(jìn)行測(cè)試。

5） 檢查連線無(wú)誤后，給儀器接上AC220V/50HZ電源，對(duì)儀器進(jìn)行通電。

6） 按測(cè)量鍵，開(kāi)始測(cè)量

7） 儀器顯示測(cè)試結(jié)束后，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)（本儀器可多次重復(fù)測(cè)量）。

8） 關(guān)掉儀器電源后，拆除連線，測(cè)試過(guò)程結(jié)束。往往這要求設(shè)計(jì)人員使用外部硬件或是通過(guò)位拆裂在固件中實(shí)現(xiàn)接口。位拆裂使用固件觸發(fā)IO端口，一般可用于實(shí)現(xiàn)串行接口。如果要監(jiān)測(cè)端口以串行數(shù)據(jù)的時(shí)候，也可以使用這種方法。無(wú)論是使用外部硬件還是位拆裂來(lái)實(shí)現(xiàn)接口，都會(huì)產(chǎn)生額外的設(shè)計(jì)成本。雖然增加外部硬件帶來(lái)的成本是明顯的，但使用軟件實(shí)現(xiàn)串行接口可能也會(huì)要求使用速度更快因而也更加昂貴的CPU。大多數(shù)通用微控制器今天都支持SPUART和I2C接口，但仍然有很多時(shí)候，某些內(nèi)部用戶可編程邏輯會(huì)非常有用。

3．儀器操作說(shuō)明：

1） 打開(kāi)電源開(kāi)關(guān)，計(jì)算機(jī)進(jìn)行自檢，液晶屏顯示中文主菜單如圖3所示。

1） 按   鍵可移動(dòng)光標(biāo)至各菜單項(xiàng)，并循環(huán)指示。被選中項(xiàng)反白字體顯示。選擇鍵的流程見(jiàn)圖4所示。

2） 在光標(biāo)當(dāng)前所示項(xiàng)目，按▼ ▲鍵鍵可進(jìn)行該項(xiàng)菜單的變更，并循環(huán)指示，流程見(jiàn)圖5所示。

地網(wǎng)接地電阻測(cè)試儀 華能牌三相變比組別測(cè)試儀 大量供應(yīng)世界半導(dǎo)體工業(yè)界，這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。面對(duì)現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限，借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能，使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷，硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國(guó)科學(xué)家的科技成果顯示，將10納米長(zhǎng)的圖案壓印在硅片上的時(shí)間為四百萬(wàn)分之一秒，把硅片上晶體管的密度提高了100倍，同時(shí)也大大提高了線生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化，使摩爾定律繼續(xù)適用。