HN8001A三相交直流指示儀表，電測儀表檢定裝置 多表位交流采樣變送器校驗儀 電壓監(jiān)測儀校驗儀 定制定做 多功能電測儀表校驗臺

車高平 13608980122/15689901059

輸出交直流電壓、電流、相位和功率均為高精度、高穩(wěn)定度標準源，軟件校準。各項輸出均采用動態(tài)負載自動調整技術,降低了負載調整率。采用高速交流采樣、高速數(shù)字信號處理器（DSP）、復雜可編程邏輯陣列（CPLD）、大功率集成功放、嵌入式計算機系統(tǒng)設計而成，將系統(tǒng)、測試和信號高度集成，體積小，重量輕，可靠性極高，功能性極強。用于檢測數(shù)字儀表、指示儀表、電能表、互感器、數(shù)字測控裝置、變送器、交流采樣裝置

只要一個簡單的內部AND或者OR門控就足以避免使用外部組件，或是改善CPU性能。所有四種方法都支持用定制邏輯門控輸入和輸出信號。這類方法可借助時鐘門控輸入，以便使用計數(shù)器測量外部時鐘頻率。這四類邏輯模塊均支持的一個簡單例子是一種調制UART輸出，使之用于IR通信的方法。在此例中，不僅有所示的內部AND門控，還能夠將來自時鐘或計數(shù)器的信號及UARTTX輸出路由到AND門控。簡單調制的UART[pagebreak]AtmelXMEGA定制邏輯（XCL）AtmelXCL模塊內置兩個LUT（查找表）模塊，配套兩個8位定時器/計數(shù)器模塊。
 技術參數(shù)：

整機有效精度 0.05級

交直流電壓輸出

量限：660V、380V、220V、100V、57.735V  

調節(jié)范圍：(0～120)%RG RG為量限,下同

準確度：0.05%RG

 交直流電流輸出

量限： 20A、5A、1A、0.2A

調節(jié)范圍:  (0～120)%RG   RG為量限,下同；

準確度： 0.05%RG

     多表位交流采樣變送器校驗儀 電壓監(jiān)測儀校驗儀 定制定做 多功能電測儀表校驗臺對于故宮內部的保護機構，公也充滿了好奇。在揭牌儀式的當日，故宮文保科技部對外展示了部分研究儀器。故宮文保科技部可以說是一個由“古法”和“今術”結合構建起的“”，多在“醫(yī)生”的“”和“呵護”下得到重生?！搬t(yī)生”的業(yè)務分兩部分，一部分沿襲和繼承的傳統(tǒng)保護修復技術，另一部分主要利用現(xiàn)代科學技術，探索現(xiàn)代科技手段在保護修復工作中的應用及其與傳統(tǒng)修復技術的結合。頻率設置：在源關閉狀態(tài)可通過鼠標選中液晶屏的頻率編輯框設置頻率。頻率設置范圍是40Hz～70Hz，分辨率為0.0001Hz 。超出范圍將會自動按頻率的值或者值輸出頻率值。也可通過面板按鍵編輯器進行頻率設置：對交流源的頻率信號進行調節(jié)。按鍵編輯器顯示為F=××.××××Hz；若交流源處于關閉狀態(tài)，則打開并輸出交流源，源幅度為量限幅度。光標指示當前欲調節(jié)細度，按【←】鍵可左移光標，按【→】鍵可右移光標。確定好調節(jié)細度后旋轉編碼器可對頻率信號進行升/降調節(jié)

在ISO882-5_27及ISO882-1_25的道路車輛熔斷器國標中，對熔斷器的參數(shù)定義及測試指標做了詳細的說明。完整的絲相關測試包含導通壓降測試，熔斷時間，級進電流及分段能力測試。本文主要以SF3和SF51為待測對象，重點介紹熔斷時間測試。熔斷時間實驗要求下圖摘自ISO882-1_27國標中針對SF3和SF51的熔斷測試要求，熔斷時間需在過載電流從1.1IR~6.IR范圍內測試，當過載電流越大，熔斷時間越快。

直流標準源參數(shù)操作

當用鼠標選中標準源視窗中〖交直流〗單選按鈕的〖直流〗選項時，標準源視窗將處于直流標準源狀態(tài)。此時所有交流源參數(shù)將處于變灰無效狀態(tài)。僅直流源參數(shù)可進行操作。

在直流標準源輸出前可以對直流標準源的量限進行設置；設置完畢，按下〖源輸出〗按鈕或【F1】鍵，HN8005B將輸出所設定的標準直流信號。

對于直流參數(shù)的設置與修改可以通過兩種方式:

方式一：直接使用【百分比鍵】操作。直流源將按當前選擇的量限百分比進行輸出。若直流源處于關閉狀態(tài)，則打開并輸出直流源，若直流源已處于輸出狀態(tài)，則直接按量限百分比輸出相應幅度。

應用背景用頻裝備是現(xiàn)代化戰(zhàn)爭中的重要組成部分，在很多場合用頻裝備性能指標的高低直接決定了戰(zhàn)爭全局的勝敗。然而，在的實際戰(zhàn)區(qū)的電磁環(huán)境中，充斥著種類繁多的復雜電磁信號，雷達、導航、通信、敵方干擾、自然噪聲等信號。同時由于電磁信號的傳播受到實際地理環(huán)境的顯著影響，導致戰(zhàn)區(qū)電磁環(huán)境異常復雜。用頻裝備在復雜電磁環(huán)境下的性能測試成為其研制過程中的重要內容。概括來說，裝備的電磁性能測試按環(huán)境不同可分為三類。