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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開(kāi)關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)
聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變
,
配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。基質(zhì)輔助激光解吸電離飛行時(shí)間質(zhì)譜(MALDI-TOFMS)法,是一種快速、高通量、高準(zhǔn)確度鑒定微生物的技術(shù),目前已經(jīng)被應(yīng)用于啤酒廠中,進(jìn)行質(zhì)量控制中啤酒微生物的鑒定。然而,MALDI-TOFMS法的適用性受到混合培養(yǎng)物相關(guān)問(wèn)題的阻礙,使得技術(shù)人員在鑒定之前需要耗費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間去做微生物選擇性培養(yǎng)。南澳大利亞大學(xué)未來(lái)工業(yè)研究所進(jìn)行了一項(xiàng)研究,提出了一種新型的低成本方法,將慣性微流體和螺旋微通道中二次流相結(jié)合,從啤酒微生物(短乳桿菌和啤酒片球菌)中高通量和地分離酵母(巴氏酵母和釀酒酵母),然后使用MALDI-TOFMS平臺(tái)進(jìn)行微生物物種鑒定。

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流:AC范圍 0到額定電流,連續(xù)可調(diào), 且該輸出電流為真有效值(指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件, 可輸出的電流有效值, 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求)

輸出波形:標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率: 50Hz (+5%, -2%)

輸出電壓:0-6V,且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間:大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù):三相  多路

寬帶差分運(yùn)算放大器的主要劣勢(shì)在于其增益通常都很有限,且其增益級(jí)別也許在內(nèi)部已經(jīng)預(yù)設(shè)。根據(jù)應(yīng)用的不同,可能需要為設(shè)計(jì)添加前置放大器,從而滿足必須的增益要求。至于前置放大器應(yīng)該采用寬帶運(yùn)算放大器,以滿足ADC的預(yù)期輸入頻率。對(duì)于采樣速率高達(dá)1GSPS的系統(tǒng)而言,這等于要求過(guò)采樣系統(tǒng)具有高達(dá)500MHz的輸入帶寬。二級(jí)放大器電路圖對(duì)于與大增益(如=10)一起工作并能保持這樣大的帶寬的運(yùn)算放大器而言,其等同于5GHz增益帶寬積(GBW)。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


1.3 恒流源配置列表:(按照客戶具體需求配置)

序號(hào)

名稱

數(shù)量

1

3回路三相0-100A電流調(diào)節(jié)器

1

2

3回路三相0-400A電流調(diào)節(jié)器

1

3

3回路三相0-630A電流調(diào)節(jié)器

1

4

3回路三相0-800A電流調(diào)節(jié)器

1

三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)于是,為了進(jìn)一步減小解決方案的尺寸,有許多多輸出IC可供選擇。這些IC通常包括集成的MOS場(chǎng)效應(yīng)晶體管(MOSFET),同時(shí)至少要求配置有外部組件。而且,單就這些IC而言,其成本或許更為昂貴。通過(guò)減少生產(chǎn)過(guò)程中必須安裝到位的外部組件數(shù)量所獲得的收益,往往會(huì)抵消前期付出的高昂成本。采用何種拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)呢?在如所示的實(shí)際應(yīng)用中,由于空間的限制,所以LDO將成為我們的。然而,由于功耗和效率的限制,實(shí)際情況并非總是如此。三回路JP柜溫升試驗(yàn)系統(tǒng)HNDL 大電流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)


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