HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 三回路配電箱溫升測試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對開關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求?？煽啃允菍Ξa(chǎn)品耐久力的測量，我們主要典型的IC產(chǎn)品的生命周期可以用一條浴缸曲線來表示。集成電路的失效原因大致分為三個(gè)階段：階段被稱為早期失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率快速下降，造成失效的原因在于IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)過程中的缺陷；階段被稱為偶然失效期,這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率保持穩(wěn)定，失效的原因往往是隨機(jī)的，比如溫度變化等等；階段被稱為損耗失效期，這個(gè)階段產(chǎn)品的失效率會(huì)快速升高，失效的原因就是產(chǎn)品的長期使用所造成的老化等。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

我們都知道，電子設(shè)備的可靠性及使用壽命與其模塊中電子器件的溫度、電壓應(yīng)力、電流應(yīng)力及所處的環(huán)境溫度有關(guān)。模塊中關(guān)鍵電子器件工作的環(huán)境越惡劣，電子器件的工作溫度越高可靠性與壽命就越低，一般器件的工作結(jié)溫為15℃，工作結(jié)溫的降額越充足，則器件的可靠性就越高。如下表2所示為該電源模塊在常溫25℃下，從低壓19V到高壓36V各關(guān)鍵電子器件的溫度熱成像圖片，從圖中可以看出該模塊的關(guān)鍵器件表面溫度不超過8℃，經(jīng)過理論計(jì)算其內(nèi)部結(jié)溫不超過1℃，可保證模塊的可靠性。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

三回路配電箱溫升測試儀HNDL 直流溫升試驗(yàn)裝置 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)對樣值存儲(chǔ)后，數(shù)字示波器再重構(gòu)波形。顯然示波器是否能重現(xiàn)真實(shí)的信號波形，其中關(guān)鍵的步驟就是采樣。根據(jù)奈奎斯特抽樣定律，要保證信號在恢復(fù)時(shí)不發(fā)生混迭現(xiàn)象和失真，采樣率至少為信號頻率帶寬的2倍以上?？上攵绻静ㄆ鞑蓸铀俾什桓?，無法建立起的波形記錄時(shí)，就會(huì)出現(xiàn)假波現(xiàn)象，如所示顯示為低頻信號波形，或者觸發(fā)顯示為不穩(wěn)定的波形。圖2.數(shù)字示波器工作原理框圖假波現(xiàn)象的判斷方法在實(shí)際測量中可以通過以下4個(gè)方法判斷示波器測量的波形是否為假波。