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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

  • 產(chǎn)品型號(hào):HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
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簡(jiǎn)單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗(yàn),電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗(yàn)電流互感器保護(hù)裝置及二次回路電流試驗(yàn)。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負(fù)載試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
詳情介紹:

HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)
是青島華能遠(yuǎn)見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率
50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。
則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括:高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器(進(jìn)口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。你知道現(xiàn)在的處理器已經(jīng)發(fā)展為8核和10核處理器了嗎?這些處理器需要多個(gè)內(nèi)核來(lái)同時(shí)運(yùn)行很多應(yīng)用程序,操作游戲和高質(zhì)量流的圖形處理器。這些全新的處理器需要很高的電流(有時(shí)超過10A),并且需要以盡可能快的速度傳送這個(gè)電流。由于不斷增長(zhǎng)的內(nèi)核數(shù)量,為這些處理器供電的器件的屬性也在發(fā)生著變化。在滿足小外形尺寸需要的同時(shí),需要真正的業(yè)內(nèi)進(jìn)的電源技術(shù)。TI有幾款為處理器供電的降壓轉(zhuǎn)換器,諸如TPS62180、LP8758和TPS62184。

溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備,全自動(dòng)控制,式操作,簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng),工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù),抗干擾能力強(qiáng),輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準(zhǔn)確度高于0.5%;。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可,無(wú)需人工監(jiān)控,僅需設(shè)定測(cè)試電流,省去手動(dòng)調(diào)壓,減小勞動(dòng)強(qiáng)度,提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí):B級(jí)

 溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)CAN波特率跟傳輸距離的關(guān)系既然線纜都會(huì)有寄生電容,那寄生電容對(duì)CAN總線的影響是怎么樣的呢?我們用CANScope模擬給總線上加不同的電容,通過眼圖來(lái)看看會(huì)發(fā)生什么,如,可以看到隨著電容的增大,顯性位跟隱性位的下降沿變得越來(lái)越緩。線纜不同電容對(duì)波形的影響當(dāng)總線上CANL對(duì)地短路后,那么CAN傳輸就只有CANH這條線維持了,這種情況下CAN總線就類似于單線CAN,差分傳輸?shù)膬?yōu)勢(shì)就蕩然無(wú)存,那么我們就看看在高速CAN下,CANL短路會(huì)出現(xiàn)什么情況。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓:0-20V.

4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過流、過壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)目前許多智能差壓變送器的精度可以達(dá)到0.075級(jí),但由于種種原因,在實(shí)際運(yùn)行中其測(cè)量誤差常常較大,有時(shí)甚至達(dá)到15%~25%,在進(jìn)行經(jīng)濟(jì)核算時(shí),這一問題顯得尤為突出。找出測(cè)量誤差產(chǎn)生的原因并盡量克服,具有重要的實(shí)際意義。筆者根據(jù)多年的工作經(jīng)驗(yàn),總結(jié)了差壓流量計(jì)誤差產(chǎn)生的一些常見原因及消除誤差的方法。差壓式流量計(jì)的組成與工作原理差壓式流量計(jì)由標(biāo)準(zhǔn)節(jié)流裝置(如標(biāo)準(zhǔn)孔板)、引壓管路和差壓變送器組成,如所示。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖:

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動(dòng)按鈕,即可通過點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖:

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí),每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖:示波器的采樣根據(jù)Nyquist采樣定理,當(dāng)對(duì)一個(gè)頻率為f的帶限信號(hào)進(jìn)行采樣時(shí),采樣頻率SF必須大于f的兩倍以上才能確保從采樣值完全重構(gòu)原來(lái)的信號(hào)。這里,f稱為Nyquist頻率,2f為Nyquist采樣率。對(duì)于正弦波,每個(gè)周期至少需要兩次以上的采樣才能保證數(shù)字化后的脈沖序列能較為準(zhǔn)確的還原原始波形。如果采樣率低于Nyquist采樣率則會(huì)導(dǎo)致混迭(Aliasing)現(xiàn)象。采樣率SF2f,混迭失真和顯示的波形看上去非常相似,但是頻率測(cè)量的結(jié)果卻相差很大,究竟哪一個(gè)是正確的?仔細(xì)觀察我們會(huì)發(fā)現(xiàn)中觸發(fā)位置和觸發(fā)電平?jīng)]有對(duì)應(yīng)起來(lái),而且采樣率只有250MS/s,中使用了20GS/s的采樣率,可以確定,顯示的波形欺騙了我們,這即是一例采樣率過低導(dǎo)致的混迭(Aliasing)給我們?cè)斐傻募傧瘛?img alt="溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)" src="https://y1.yzimgs.com/uploads//20210917-08564513.jpg">

1.在連接儀器測(cè)試線前,應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí),電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間300s。封測(cè)是封裝和測(cè)試制程的合稱,其中封裝是為保護(hù)芯片不受環(huán)境因素的影響,而將晶圓代工廠商制造好的集成電路裝配為芯片的過程,具有連接芯片內(nèi)部和外部電路溝通的作用;測(cè)試環(huán)節(jié)的目的是檢查出芯片。作為半導(dǎo)體核心產(chǎn)業(yè)鏈上重要的一環(huán),封測(cè)雖在摩爾定律驅(qū)動(dòng)行業(yè)發(fā)展的時(shí)代地位上不及設(shè)計(jì)和制造,但隨著“超越摩爾時(shí)代”概念的提出和到來(lái),先進(jìn)封裝成為了延續(xù)摩爾定律的關(guān)鍵,在產(chǎn)業(yè)鏈上的重要性日漸提升。既然先進(jìn)封裝將成為行業(yè)未來(lái)發(fā)展的關(guān)鍵推動(dòng)力之一,那么我們就有必要對(duì)封裝產(chǎn)業(yè)尤其是國(guó)內(nèi)的封裝產(chǎn)業(yè)進(jìn)行一個(gè)大致的了解,以便窺探產(chǎn)業(yè)未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)。溫升大電流發(fā)生器 斷路器溫升試驗(yàn)設(shè)備 母線槽溫升測(cè)試儀 30年經(jīng)驗(yàn)

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