HNDL系列全自動(dòng)大電流發(fā)生器測(cè)試系統(tǒng)大電流發(fā)生器 溫升試驗(yàn)裝置 斷路器溫升測(cè)試儀 5年保修

是青島華能遠(yuǎn)見(jiàn)有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應(yīng)用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設(shè)備的電流負(fù)載速斷試驗(yàn)及溫升試驗(yàn)。則有效的保證了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。整機(jī)測(cè)試單元包括：高精度毫秒計(jì)、真有效值電流表、電流傳感器（進(jìn)口件）、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動(dòng)調(diào)壓輸出電流。其方法是將樣品固定在振動(dòng)臺(tái)上，經(jīng)過(guò)模擬固定頻率（50HZ）、變頻（5-2KHZ）等振動(dòng)環(huán)境進(jìn)行試驗(yàn)。在一定頻率范圍內(nèi)進(jìn)行一次循環(huán)結(jié)束后，按規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)。比如說(shuō)氧化鋯氧氣含量?jī)x，就必須避免振動(dòng)和沖擊，實(shí)驗(yàn)證明因?yàn)橛捎谘趸唭?nèi)部鋯管極易受振動(dòng)而損壞，氣體儀器就不能工作。沖擊試驗(yàn)用以檢查儀器儀表經(jīng)受非重復(fù)機(jī)械沖擊的適應(yīng)性。其方法是將樣品固定在試驗(yàn)臺(tái)上用一定的加速度和頻率，分別在樣品的不同方向沖擊若干次。

特點(diǎn)

1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作；測(cè)試無(wú)需外接任何輔助設(shè)備，全自動(dòng)控制，式操作，簡(jiǎn)單方便。

2、 帶有自動(dòng)穩(wěn)流系統(tǒng)，工控機(jī)可實(shí)現(xiàn)四遙控能

3、 采用當(dāng)前電力電子技術(shù)，抗干擾能力強(qiáng)，輸出精度高，紋波系數(shù)小于0.2％，準(zhǔn)確度高于0.5%；。

4、 自動(dòng)試驗(yàn)只需設(shè)置好目標(biāo)電流即可，無(wú)需人工監(jiān)控，僅需設(shè)定測(cè)試電流，省去手動(dòng)調(diào)壓，減小勞動(dòng)強(qiáng)度，提高工作效率。運(yùn)行時(shí)間可自由設(shè)定

5、絕緣耐壓 1800/AC  1min,   絕緣等級(jí)：B級(jí)

 AECANC測(cè)試系統(tǒng)是基于A2音頻儀器開發(fā)的一套兼顧ANC以及耳機(jī)聲學(xué)的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)支持FF，F(xiàn)B，Hybrid等不同降噪方案，可以根據(jù)客戶需要進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試耳機(jī)的被動(dòng)降噪以及主動(dòng)降噪曲線，自動(dòng)化調(diào)整待測(cè)品增益以達(dá)到目標(biāo)降噪效果，自動(dòng)燒錄增益數(shù)據(jù)。測(cè)試系統(tǒng)穩(wěn)定性好，速度快，能有效解決研發(fā)或者產(chǎn)線降噪耳機(jī)測(cè)試問(wèn)題。同時(shí)支持降噪耳機(jī)濾波電路曲線測(cè)試，普通藍(lán)牙耳機(jī)，TWS耳機(jī)，有線耳機(jī)等的所有相關(guān)聲學(xué)測(cè)試。

二、技術(shù)指標(biāo)

1.輸入 交流50Hz , 380V。

2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運(yùn)行時(shí)段可自行設(shè)定。

3. 輸出開口電壓：0-20V.

4.電流精度 ：各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào)，精度高于0.5級(jí).電流電壓表顯示為真有效數(shù)值，精度高、穩(wěn)定度高。

5.電流波形失真   THD 1%  設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于國(guó)標(biāo)<<GB14048.2-14>>.

6.保護(hù)設(shè)置  過(guò)流、過(guò)壓

7.絕緣阻抗  20兆歐

8.絕緣耐壓  1800/AC  1MIN

9.可測(cè)被測(cè)元件的電流動(dòng)作時(shí)間。并可同步記錄鎖定動(dòng)作時(shí)間。常開、常閉觸點(diǎn)自動(dòng)判別。測(cè)時(shí)范圍：0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.此外，利用不同檢測(cè)儀器中的共同部分，組成以以太網(wǎng)為傳輸手段的開放式數(shù)字信息處理平臺(tái)，可以把信號(hào)發(fā)生的控制、數(shù)據(jù)采集、系統(tǒng)軟件、可視化等通用部分共用。由于這種無(wú)損檢測(cè)集成技術(shù)對(duì)信號(hào)的綜合性要求較高，故必須為信息的傳輸提供高速的連接方式。階段：機(jī)電一體化集成技術(shù)自動(dòng)化集成無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展階段是機(jī)電一體化集成無(wú)損檢測(cè)技術(shù)。這是在儀器集成的基礎(chǔ)上，加上機(jī)電一體化的自動(dòng)控制、檢測(cè)、判斷和結(jié)果處理等系列功能的智能自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)。

三、操作方法

1、儀器接入380V電壓，在將儀器后面電流輸出端子與被測(cè)品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點(diǎn)要接到被測(cè)品的輔助常閉觸點(diǎn)上。

2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān)，等待幾秒進(jìn)入試驗(yàn)選擇界面如下圖：

電流輸出線與常閉觸點(diǎn)接入后，注急停按鈕不要按下，直接按啟動(dòng)按鈕，即可通過(guò)點(diǎn)擊觸控屏升降按鈕來(lái)調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗(yàn)結(jié)束后，都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動(dòng)歸零位)。

2) 自動(dòng)升流就選擇進(jìn)入“自動(dòng)試驗(yàn)”界面如下圖：

自動(dòng)試驗(yàn)時(shí)，每次都要先選擇“參數(shù)設(shè)置”來(lái)設(shè)置輸出電流大小。做長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行可自由設(shè)定運(yùn)行時(shí)間。如下圖：時(shí)間交錯(cuò)技術(shù)可使用多個(gè)相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用于DAC的時(shí)間交錯(cuò)特性），并以比每一個(gè)單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來(lái)處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡(jiǎn)單說(shuō)來(lái)，時(shí)間交錯(cuò)（IL）由時(shí)間多路復(fù)用M個(gè)相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個(gè)ADC實(shí)際上以較低的速率進(jìn)行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過(guò)交錯(cuò)四個(gè)10位/100MSPSADC，理論上可以實(shí)現(xiàn)10位/400MSPSADC。

1.在連接儀器測(cè)試線前，應(yīng)先檢查各項(xiàng)調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。

2.輸出電流2500A以上時(shí)，電流輸出線一定要緊固。試驗(yàn)時(shí)間≤300s。一般來(lái)說(shuō)，時(shí)鐘頻率跑的越快，則CPU每秒所能完成的運(yùn)算次數(shù)就越多，性能自然更好，隨著時(shí)鐘頻率的增加，CPU就會(huì)變得越來(lái)越熱，這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn)，過(guò)高的溫度會(huì)影響系統(tǒng)的運(yùn)行，所以有必要采取措施來(lái)“監(jiān)控”CPU的溫度，把它限制在一定溫度范圍內(nèi)，以確保CPU的可靠運(yùn)行。由于二極管制造工藝的性，我們可以利用二極管的伏安特性來(lái)測(cè)量CPU的溫度，它的伏安特性如下圖：，將PN結(jié)用外殼封裝起來(lái)，并加上電極引線就構(gòu)成了半導(dǎo)體二極管，簡(jiǎn)稱為二極管。