HN300電纜故障測試儀 電纜外護套故障測試儀 HN300系列 地下管線儀30年經(jīng)驗

 用于35kV及以下不同等級、不同截面、不同介質及材質的電力電纜的各類故障，包括：開路、短路、低阻、高阻泄漏、高阻閃絡性故障。可配合高壓設備實現(xiàn)傳統(tǒng)電纜故障測試的低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法。 全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏顯示，全中文操作軟件和使用界面，子菜單方式和文字提示實現(xiàn)人機互動。也就是說，壓痕接觸面積愈大，超聲硬度計的示值愈低。而非壓痕接觸大大地增加了壓頭與被測表面的接觸面積，致使硬度計示值偏低于真實值。試驗證明，洛氏硬度測量偏差在10HRC左右；布氏硬度測量偏差在20HB左右。解決辦法：在測量試樣硬度時，我們必須注意被測表面粗糙度是否符合硬度計的檢測條件。在正常使用硬度計的條件下，必須保證試樣的被測表面粗糙度值小于或等于Ra=0.8μm，若試樣的被測表面粗糙度值大于Ra=0.8μm，可以通過機械方法（上磨床）或手工方法，對被測表面進行研磨修整，法國凱茂KIMO使試樣的被測表面粗糙度達到檢側條件。

技術參數(shù)

1. 采樣方法：低壓脈沖法、沖擊閃絡法、速度測量法

2. 采樣速率：200 MHz、100 MHz、80 MHz、40 MHz、20MHz、10 MHz

3. 脈沖寬度：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs

4. 波速設置：交聯(lián)、聚氯、油浸紙、不滴油和未知類型自設定

5. 沖擊高壓：35kV及以下

6. 測試距離：＜60km，盲區(qū)≤1m

7. 分 辨 率：1m

8. 測試精度：1m

9. 顯示方式：工業(yè)級10.4寸彩色觸摸液晶屏

圖1生產自動化的分層模型以及對數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)的要求要求對過程變量進行采集和控制的設備位于自動化的層——現(xiàn)場層。除了控制單元以外，還包括人機接口/終端、傳感器、執(zhí)行器和復雜的驅動系統(tǒng)。智能傳感器、測量轉換器、驅動系統(tǒng)和控制設備的使用也正逐漸增加?，F(xiàn)場總線控制系統(tǒng)（FCS）為一種全新的分布式控制測控系統(tǒng)。傳統(tǒng)的控制系統(tǒng)中用于連接傳感器和執(zhí)行器的昂貴布線在現(xiàn)代工廠中被串行總線系統(tǒng)所取代（現(xiàn)場總線系統(tǒng)、傳感器－執(zhí)行器－總線系統(tǒng)）。

 四、工作原理

       本產品采用的是時域反射（TDR）原理，即對電纜發(fā)射一電脈沖，電脈沖將在電纜中勻速傳輸，當遇到電纜阻抗發(fā)生變化的地方（故障點），電脈沖將產生反射。測距主機將電脈沖的發(fā)射和反射的變化以時域形式通過液晶屏顯示出來，通過屏幕上的波形可直接判讀故障距離。

① 開關按鍵：按下自鎖接通電源，再按解鎖斷開電源。開機2分鐘無任何操作時，屏幕將變暗進入屏保節(jié)能狀態(tài)。由于電力電子技術的飛速發(fā)展，電力電子裝置在電力系統(tǒng)、工業(yè)、交通及家庭中的應用日益廣泛，諧波所造成的危害也日趨嚴重，如何治理電氣中的諧波問題，已經(jīng)成為世界各國的重中之重。背景一：2003年8月17日，美國紐約大停電，數(shù)萬居民在一年中熱的天氣下“煎熬”了5天，發(fā)生60起重大火災，經(jīng)濟損失200－300億美元。背景二：九十年代初，三列電氣機車同時在山西石洞口電廠供電區(qū)域通過，結果將經(jīng)過十幾次鍛打的12.5兆瓦發(fā)電機組主軸扭成“麻花”，西北電網(wǎng)因此解網(wǎng)，發(fā)生電力系統(tǒng)等級惡故。

② 充電端口：用于連接充電器，給電池充電。

③ 中值旋鈕：順時針旋動中值向上走動；逆時針旋動中值向下走動。（需采樣刷新才有變化）大；逆時針旋動幅度減小。（需采樣刷新才有變化）

⑤ 采樣端口：四芯座，用于連接采樣線。城建施工、洪水侵襲、人為破壞、地殼運動等人為行為或者天災的破壞，都很容易造成光纖線路的故障。如何有效地保證光纖通信系統(tǒng)的可靠性，一直是一個有待解決的技術難題。本設計在光纖通信的基礎之上，通過對光纖通信監(jiān)測系統(tǒng)的可靠性進行研究。以FPGA代替?zhèn)鹘y(tǒng)的MCU架構完成數(shù)據(jù)的采集和處理，能完成高速的實時數(shù)據(jù)采集，測量誤差小，工作可靠性高。光纖通信系統(tǒng)的測量原理目前的光纖測量中，主要是要測量光纖的損耗和斷點。主要基于瑞利散射和菲涅爾反射兩種光學現(xiàn)象來進行測量。

⑥ 觸摸式彩色液晶屏：詳見“工作界面介紹”。

按“       ”鍵，彈出采樣方式選擇子菜單。子菜單中包括：“低壓脈沖”、“閃絡方法”和“速度測量”。儀器開機默認“低壓脈沖”，根據(jù)測試需要，可選擇相應的采樣方式，再按“采樣方式”鍵退出。

按“       ”鍵，彈出脈沖寬度選擇子菜單。子菜單中包括7個選項，分別為：0.05μs、0.1μs、0.2μs、0.5μs、1μs、2μs、8μs。根據(jù)測試距離選擇合適的脈寬，按對應的子菜單鍵可以對脈沖寬度進行選擇，儀器開機默認0.2μs，再按“脈寬”鍵退出此項功能。注意：在高壓閃絡法測試中此項不做選擇。

其中半導體器件(包括：半導體分立器件、集成電路等)大多數(shù)是輻射敏感器件，輻射環(huán)境對這些器件的性能會產生不同程度的影響，甚至使其失效。針對輻射效應，在器件的材料、電路設計、結構設計、工藝制造及封裝等各個環(huán)節(jié)采取加固措施，使其具有一定的抗輻射性能。選擇抗輻射加固的器件應用在空間輻射環(huán)境中，將能提高航天器的可靠性和使用壽命;應用在戰(zhàn)略中，將能提高其效能和突防能力?？臻g輻射環(huán)境對電子器件主要產生電離輻射總劑量(TID)效應和單粒子效應(SEE);核輻射環(huán)境尤其是核環(huán)境，主要產生瞬時電離輻射總劑量效應、中子輻射效應和電磁脈沖損傷效應。