在物聯(lián)網(wǎng)高速發(fā)展的現(xiàn)在，各個頻段的應用幾乎達到了，這就導致了不同模塊之間的相互干擾，對于濾波以及抗干擾性的要求不斷提升。如何避免同頻干擾，成了困擾多工程師的難題。想要解決同頻干擾問題，通過軟件和硬件兩個方向都可以，本文主要從硬件設計的角度，為解決同頻干擾提供方案。從硬件的角度來看，想要避免同頻干擾，可以增加可用帶寬，增加帶寬意味著在跳頻的時候有著更多的選擇，劃分信道之間的距離更大，從而避免相互干擾，同時也大大降低了軟件設計的難度。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗

2 變比試驗

3 相位和極性試驗

4 CT一次電流及負荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護CT、計量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。由于并行任務調(diào)度規(guī)劃并不是固定的，在測試運行之前，軟件無法確定測試任務的執(zhí)行次序，從而也就無法確定測試通道的打通次序。那么，只能在測試任務運行時，根據(jù)UUT端口和被測參數(shù)來動態(tài)建立信號鏈路，并打通相應的通道。并行測試解決思路并行測試技術是對傳統(tǒng)串行測試技術的突破和超越，思維方式與解決途徑都發(fā)生了較大的變革，在大幅度提高測試效率的同時也帶來了較多的挑戰(zhàn)，下面逐一介紹解決思路。測試資源競爭和死鎖問題解決思路概括起來講，測試資源競爭問題解決思路就是八個字“用時申請，用后歸還”。

技術參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準確度 ±0.1%
■ CT變比測量范圍：1~30000
■ PT變比測量范圍：1~30000互感器綜合儀 標準電流互感器 華能牌目前，大多數(shù)蜂窩采用時分多址(TDMA)標準，這種復用技術以217Hz的頻率對高頻載波進行通/斷脈沖調(diào)制。容易受到RF干擾的IC會對該載波信號進行解調(diào)，再生出217Hz及其諧波成分的信號。由于這些頻譜成分的絕大多數(shù)都落入音頻范圍，因此它們會產(chǎn)生令人生厭的“嗡嗡”聲。由此可見，RF抗干擾能力較差的電路會對蜂窩的RF信號解調(diào)，并會產(chǎn)生不希望聽到的低頻噪音。作為質量保證的測試手段，測量時需要將電路置于RF環(huán)境中，該環(huán)境要與正常操作時電路的工作環(huán)境相當。