目前，電子通信發(fā)展迅速，對技術(shù)、裝置等方面也提出了更高的要求。設(shè)備制造商也在不斷尋求新的方案，尤其是在熱管理方面將面臨更多的挑戰(zhàn)和壓力，需要通過一款靠譜的熱像儀，隨時監(jiān)控變化，獲取高質(zhì)量的熱像圖。愛爾蘭科克郡Tyndall研究所目前正在探尋高性能光電子器件的組建方案。研究所特別研究小組利用熱顯微鏡系統(tǒng)中的FLIR制冷型中波熱成像儀，清晰地呈現(xiàn)了新一代無源光網(wǎng)絡(luò)的硅光子光網(wǎng)絡(luò)單元(ONU)圖像。
HN10A互感器特性綜合測試儀華能 變頻互感器綜合測試儀 HN10A互感器校驗(yàn)儀 帶通訊

功能簡介：

測試互感器：PT、CT（保護(hù)類、計(jì)量類）、伏安特性（勵磁特性）曲線、自動給出點(diǎn)值、自動給出5%和10%的誤差曲線、變比測量、比差測量、相位（角差）測量、極性判斷、一次通流測試、交流耐壓測試、二次負(fù)荷測試、二次繞組測試、鐵心退磁等設(shè)計(jì)的多功能現(xiàn)場試驗(yàn)儀器。

技術(shù)參數(shù)：

1、工作電源：AC220V±10% 、50Hz

2、設(shè)備輸出：0～2500Vrms， 5Arms（20A峰值）

3、大電流輸出：0～1000A

4、二次繞組電阻測量范圍：0.1～50Ω

5、二次繞組電阻測量準(zhǔn)度：≤0.5%、分辨力0.01

6、二次實(shí)際負(fù)荷測量范圍：5～300VA

7、二次實(shí)際負(fù)荷測量準(zhǔn)度：≤0.5%±0.1VA注意51單片機(jī)引腳的拉電流很小，不能直接驅(qū)動Q1，否則放電時間會很長。當(dāng)單片機(jī)P15引腳為高電平時,電容充電，當(dāng)充電到Uc時，比較器翻轉(zhuǎn)，觸發(fā)單片機(jī)外部中斷0，通過測得的充電時間和充電電阻的大小可以計(jì)算出電容大小。原理圖上圖中（請參照PDF原理圖），Btn1是單片機(jī)復(fù)位按鈕；Btn2是校準(zhǔn)按鈕，在測量小電容時候可以隨時按下清零顯示；Btn3是功能切換按鈕，用來在測量LCF(頻率、小電容、電感)和測量電解電容之間切換。

軟件使用說明 

11.1 將配套光盤放入計(jì)算機(jī)光驅(qū)中，解壓“軟件”至C盤根目錄。

11.2，安裝“wic_x86_chs.exe”文件，其次，安裝“dotNetFx40_Full_x86_x64.exe”軟件，默認(rèn)安裝地址即可。

11.3安裝完畢后，打開“伏安特性”文件夾，選擇打開“VATeXing.exe”操作軟件，如圖38即為上位機(jī)操作軟件。

11.4在“VATeXing.exe”操作軟件中，下方選擇互感器種類“CT”或“PT”，應(yīng)用語言“中文”或“英文”。

11.5如需生成報(bào)告格式文件，必須載入試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，具體操作方法如下：

a）、將存儲試驗(yàn)數(shù)據(jù)的U盤連接至計(jì)算機(jī)。

b）、在圖38中選擇打開“選擇文件”，出現(xiàn)圖39操作窗口，在圖39中可根據(jù)需要載入所需文件。

c）、試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)說明：以“A”為開頭的數(shù)據(jù)為勵磁特性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“B”為開頭的數(shù)據(jù)為變比極性結(jié)果數(shù)據(jù)，以“C”為開頭的數(shù)據(jù)為負(fù)荷結(jié)果數(shù)據(jù)，以“D”為開頭的數(shù)據(jù)為直阻結(jié)果數(shù)據(jù)。以“E”為開頭的數(shù)據(jù)為角差比差結(jié)果數(shù)據(jù)，以“T”為開頭的數(shù)據(jù)為暫態(tài)結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.6 載入數(shù)據(jù)結(jié)束后，選擇“確定”出現(xiàn)圖40界面，在此界面右上方設(shè)置相應(yīng)參數(shù)后，選擇“生成誤差曲線”則完成所有試驗(yàn)結(jié)果的載入。

11.7 載入完成后，可根據(jù)需要選擇“保存”或打印結(jié)果數(shù)據(jù)。

11.8  選擇“保存”選項(xiàng)，則以WORD的形式顯示結(jié)果如圖41。

11.9  如需繼續(xù)加載試驗(yàn)結(jié)果數(shù)據(jù)，請先上次載入的數(shù)據(jù)。

移相網(wǎng)絡(luò)移相是指對于兩路同頻信號，以其中一路為參考信號，另一路信號相對于該參考信號做超前或滯后的移相形成相位差。主要有數(shù)字移相法和RC移相兩種。數(shù)字移相法通常采用延時的方法，以延時的長短來決定兩路數(shù)字信號間的相位差。數(shù)字移相法移相量可以很大，但是在一個周期內(nèi)采樣點(diǎn)數(shù)較多，對AD和RAM的速度要求很高。用RC組成移相網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行移相，由于回路呈容性，信號經(jīng)過該網(wǎng)絡(luò)后，相位發(fā)生變化。由于該方案簡單，很方便實(shí)現(xiàn)-45°到+45°移相，足以滿足需求，所以本系統(tǒng)采用了RC移相法。

HN12A變頻式互感器綜合儀（CT/PT儀）

功能簡介：

1 勵磁特性試驗(yàn)

2 變比試驗(yàn)

3 相位和極性試驗(yàn)

4 CT一次電流及負(fù)荷時的比差、角差測量

5 CT二次繞組電阻測量

6 CT二次回路負(fù)荷測量

7 CT暫態(tài)特性測試與

8 CT升流試驗(yàn)

9 測量校核型號的CT、PT，包括保護(hù)CT、計(jì)量CT、TP級暫態(tài)CT、勵磁飽和電壓達(dá)到40KV的CT、變壓器套管CT、各電壓級PT等.

10 點(diǎn)電壓/電流、10%(5%)誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)、儀表保安系數(shù)、二次時間常數(shù)、剩磁系數(shù)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等CT、PT參數(shù)的測量.

自動給出點(diǎn)電壓/電流、 10％誤差曲線、 5％誤差曲線、準(zhǔn)確限值系數(shù)（ALF）、 儀表保安系數(shù)（FS）、 二次時間常數(shù)(Ts)、剩磁系數(shù)(Kr)、準(zhǔn)確級、飽和和不飽和電感等參數(shù)。

技術(shù)參數(shù)：

輸出電壓：0~180V (RMS)
■ 輸出電流：0~12A，峰值36A
■ 電壓測量：準(zhǔn)確度 ±0.1%
■ CT變比測量范圍：1~30000
■ PT變比測量范圍：1~30000華能 變頻互感器綜合測試儀 HN10A互感器校驗(yàn)儀 帶通訊便攜式電子產(chǎn)品與我們的生活日益密切，使用可穿戴設(shè)備已經(jīng)成為消費(fèi)新潮流。在市場日益顯著增長的同時，如何提高電量計(jì)的準(zhǔn)確性成為了亟待解決的問題。傳統(tǒng)內(nèi)置于可穿戴設(shè)備的電量計(jì)可提供的度約±8%。因此如果指示器顯示剩余電量為10%，那么實(shí)際值可能低至2%。用戶往往以為設(shè)備可以再工作一段時間，而系統(tǒng)卻突然意外關(guān)閉，丟失未保存的關(guān)鍵數(shù)據(jù)和工作，為用戶的使用帶來不便。試想如果這種故障發(fā)生在環(huán)境，還有可能危及生命。