基于同樣的原因，在電源測量中也應(yīng)該盡量使用1：1的而不是示波器標(biāo)配的10：1的。否則示波器的噪聲也會被放大。帶來的噪聲是在在衰減器前面耦合進(jìn)來的，因此無論衰減比設(shè)置多少，貢獻(xiàn)的噪聲都是一定的。在某些不正確的使用方法下，可能會帶來額外的噪聲，一個典型的例子就是使用長地線。為了方便測試，示波器的的無源通常會使用10cm左右的鱷魚夾形式的長地線，但是這對于電源紋波的測試卻是不適用的，特別是板上存在開關(guān)電源的場合。
HN7030A變壓器絕緣油介質(zhì)損耗測試儀

用于絕緣油等液體絕緣介質(zhì)的介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量，內(nèi)部集成了介損油杯、溫控儀、溫度傳感器、介損測試電橋、交流試驗電源、標(biāo)準(zhǔn)電容器、高阻計、直流高壓源等主要部件。，該儀器應(yīng)用先進(jìn)的測控技術(shù),全自動完成升溫、控溫、高速數(shù)據(jù)采樣、運算、顯示、打印及存儲等過程.

技術(shù)指標(biāo)

測 量 范 圍： 電容量       5pF～200pF
              相對電容率   1.000～30.000
              介質(zhì)損耗因數(shù) 0.00001～100
直流電阻率    2.5 MΩm～20 TΩm
測 量 準(zhǔn) 度： 電容量       ±(1%讀數(shù)+0.5pF)
              相對電容率   ±1%讀數(shù)
              介質(zhì)損耗因數(shù) ±(1%讀數(shù)+0.0001)
              直流電阻率   ±10%讀數(shù)
分  辨   率： 電容量       0.01pF
              相對電容率   0.001
              介質(zhì)損耗因數(shù) 0.00001
測  溫 范 圍： 0～125℃
溫度測量誤差： ±0.5℃
交流實驗電壓： 500～2200V  連續(xù)可調(diào)，頻率50Hz
直流試驗電壓： 0～500V     連續(xù)可調(diào)HN7030型 油介質(zhì)損耗測試儀 變壓器直流電阻測試儀 操作Wasson表示對于TI毫米波雷達(dá)來說更有意義的是，其應(yīng)用的快速擴(kuò)展已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超越了常規(guī)的ADAS功能。，其毫米波傳感器內(nèi)置的數(shù)字處理功能可以過濾噪音，使TI的雷達(dá)芯片可以探測非常微小的運動，甚至是人或動物的呼吸，以判斷車內(nèi)是否有人或動物的存在。Wasson提到“兒童乘坐探測”，很可能將進(jìn)入歐洲NCAP（新車評價規(guī)程）發(fā)展規(guī)劃。他相信這將為TI雷達(dá)傳感器在車身、傳動和車廂內(nèi)的應(yīng)用打開大門。Tier1和OEM制造商正在尋求合適的傳感技術(shù)來實現(xiàn)這類探測，而雷達(dá)傳感器在這方面優(yōu)勢更明顯。

感謝您選擇了絕緣油介質(zhì)損耗及體積電阻率測試儀！為方便您盡早盡快地熟練操作本儀器，我們特隨機(jī)配備了內(nèi)容詳實的操作手冊，從中您可以獲取有關(guān)產(chǎn)品介紹、使用方法、儀器性能以及**注意事項等諸多方面的信息。

在次使用儀器之前，請務(wù)必仔細(xì)閱讀本操作手冊，并按本手冊對儀器進(jìn)行操作和維護(hù)，這會有助于您更好的使用該產(chǎn)品，并且可以延長該儀器的使用壽命。

在編寫本手冊時，雖然我們本著科學(xué)和嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膽B(tài)度進(jìn)行了工作，并認(rèn)為本手冊中所提供的信息是正確和可靠的。然而，智者千慮必有一失，本手冊也難免會有錯誤和疏漏之處。如果您發(fā)現(xiàn)了手冊中的錯誤，請務(wù)必于百忙之中抽時間，盡快設(shè)法告知我們，并煩請監(jiān)督我們迅速改正錯誤！本公司全體職員將不勝感激！儀器結(jié)構(gòu)的不同氣體檢測儀結(jié)構(gòu)較簡單，只包括(傳感器)及傳感器信號轉(zhuǎn)換電路部分。而氣體儀不僅在內(nèi)部裝有(傳感器)而且還有一整套氣路系統(tǒng)，即將樣氣引入到儀器內(nèi)部，并且再引出儀器放空或回收的全套氣路系統(tǒng)。氣體儀檢測方式不同氣體檢測報警儀利用直接暴露在被測的空氣中或樣氣環(huán)境中進(jìn)行檢測。而氣體儀是將被測氣體(樣氣)通過方式引入到儀器內(nèi)部進(jìn)行測定，然后再引出儀器外放空。氣體檢測儀對測定條件的控制方式不同氣體檢測報警儀不設(shè)有樣氣工藝技術(shù)條件的調(diào)整及控制部分，同時也完全不考慮樣氣存在的環(huán)境條件，直接進(jìn)行檢測。

本公司保留對儀器使用功能進(jìn)行改進(jìn)的權(quán)力，如發(fā)現(xiàn)儀器在使用過程中其功能與操作手冊介紹的不一致，請以儀器的實際功能為準(zhǔn)。我們希望本儀器能使您的工作變得輕松、愉快，愿您在繁忙的工作之中體會到辦公自動化的輕松而美好的感覺！半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù)，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機(jī)臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。

注意事項

1.遵守高壓試驗**工作規(guī)程。

2.因儀器內(nèi)部有高壓及高溫，在工作過程中，禁止打開油杯罩。

3.儀器在使用過程中要可靠接地。

4.要注意儀器使用環(huán)境的清潔。

5.油杯安裝和清洗應(yīng)嚴(yán)格按規(guī)定進(jìn)行，否則將造成油杯放電，致使儀器無法正常工作。

6.管損壞，必須更換相同規(guī)格管。時間交錯技術(shù)可使用多個相同的ADC（文中雖然僅討論了ADC，但所有原理同樣適用于DAC的時間交錯特性），并以比每一個單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡單說來，時間交錯（IL）由時間多路復(fù)用M個相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs（采樣周期Ts=1/fs），哪怕陣列中的每一個ADC實際上以較低的速率進(jìn)行采樣（和轉(zhuǎn)換），即fs/M。舉例而言，通過交錯四個10位/100MSPSADC，理論上可以實現(xiàn)10位/400MSPSADC。