HN6000A四通道變頻抗干擾高壓介質(zhì)損耗測試儀  遠見 青島華能HN6000 高壓介質(zhì)損耗測試儀 變壓器特性綜合試驗系統(tǒng)

   該儀器可用正、反接線方法測量不接地或直接地的高壓電器設(shè)備。可以測量電容式電壓互感器的tg及主電容C1、C2電容量。適用于電力行業(yè)中變壓器、互感器、套管、電容器、避雷器等設(shè)備的介損測量。

抗干擾介損自動測試儀 技術(shù)參數(shù)
    1、準確度：
    Cx: ±（讀數(shù)×1%+1pF）
    tg: ±（讀數(shù)×1%+0.00040）
    2、抗干擾指標： 變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達到上述準確度
    3、電容量范圍：
    內(nèi)施高壓： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
    外施高壓： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
    分辨率： 更高0.001pF，4位有效數(shù)字
    4、tg范圍： 不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。
    5、試驗電流范圍：10μA～1A
    6、內(nèi)施高壓： 
    設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
    輸出電流：200mA
    升降壓方式： 連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
    試驗頻率：
    45、50、55、60、65Hz單頻     
    45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻PCI總線不僅可以應(yīng)用到低檔至的臺式系統(tǒng)上，而且也可應(yīng)用在便攜式機及至服務(wù)器的范圍中。在一個PCI系統(tǒng)中，可做到高速外部設(shè)備和低速外部設(shè)備共享，PCI總線與ISA／EISA總線并存，其系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如所示［1］。PCI總線信號與命令在一個PCI應(yīng)用系統(tǒng)中，取得了總線控制權(quán)的設(shè)備稱為“主設(shè)備”，而被主設(shè)備選中以進行通信的設(shè)備稱為“從設(shè)備”或“目標設(shè)備”。相應(yīng)的接口信號線，通常分為必備的和可選的2大類。
    頻率準度： ±0.01Hz
    7、外施高壓：
    正接線時試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz
    反接線時試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
    8、CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A遠見 青島華能HN6000 高壓介質(zhì)損耗測試儀 變壓器特性綜合試驗系統(tǒng)按照存儲芯片MicroSD卡供電要求的范圍：2.7V-3.6V；不允許超出此范圍，否則，芯片在不穩(wěn)定的電壓下工作會有比較大的風險，甚至會對卡片的正常工作帶來影響。需要考慮的是示波器的設(shè)置，究竟是否需要進行20MHZ的帶寬限制？詳細的使用環(huán)境如下圖所示：如何去測試“高頻開關(guān)電源”噪聲IPAD剛引出來的那個端口可以當做電源的源端，而通過后端的外圍模塊后在末端進行測試的時候，電源通過了一段PCB走線，包括一些芯片回路，應(yīng)該存在高頻的噪聲，如果采用20MHZ的帶寬限制，實際上是將原本屬于模塊的噪聲給濾掉了，為此，我們進行了對比測試進行驗證：步，我先驗證IPAD的供電端在工作時的輸出，如下圖：通過直接驗證IPAD的輸出口的電壓,保證源端的供電是正常的；通過測試，我們發(fā)現(xiàn)在源端測量的電壓值在3.4V（500MHZ帶寬測量）左右，峰峰值29mV，是非常穩(wěn)定的供電；可以排除源端供電的問題，接下來，我們直接在通過整個模塊后在MicroSD卡的供電腳SDVCC對電行測量，如下圖：當我們在圖片上的點進行測試的時候，發(fā)現(xiàn)在高頻開關(guān)電源上有相當大的噪聲，使得電壓超出了規(guī)范要求的范圍，值達到了3.814V，峰峰值達854mV；但當我們將示波器設(shè)置為20MHZ帶寬的時候，高頻開關(guān)電源變的非常好，完全在供電要求的范圍內(nèi)；正如在本文開頭描述的，在本次高頻開關(guān)電源測試過程中，已經(jīng)不是高頻開關(guān)電源紋波測量，而應(yīng)該是噪聲。