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PGA:插針網格陣列封裝,插裝型封裝之一,基材多采用多層陶瓷基板。SIP(SingleIn-line):單列直插式封裝,引腳從封裝一個側面引出,排列成一條直線。SIP(SystemInaPackage):系統級封裝,將多種功能芯片,包括處理器、存儲器等功能芯片集成在一個封裝內,從而實現一個基本完整的功能。對比MCM,3D立體化可以體現在芯片堆疊和基板腔體上。
HN7010A系列直流電阻測試儀常州 直流低電阻測試儀 價格 接地引下線導通電阻測試儀規(guī)格齊全
產品概述
變壓器的直流電阻是變壓器制造中半成品、成品出廠試驗、安裝、交接試驗及電力部門預防性試驗的必測項目,能有效發(fā)現變壓器線圈的選材、焊接、連接部位松動、缺股、斷線等制造缺陷和運行后存在的隱患。
二、功能特點
l 對星型接法有中性點引出的繞組測試時,儀器可以采取三相同時測量的方式測試A0、B0、C0相的直流電阻,大大節(jié)省測試時間;
l 顯示、打印變壓器的高中低壓繞組的測試數據,并自動計算出三相不平衡率;
l 具有完善的反電勢保護功能;
掃頻頻譜儀測得的脈沖信號數字熒光圖譜測得的脈沖信號1.2查找瞬態(tài)偶發(fā)事件451的實時頻譜功能中采用硬件實時FFT模塊不間斷的對采集調理后的數據做頻譜,同時數字熒光處理模塊能夠實時統計FFT模塊輸出的頻譜數據,實時FFT模塊能夠每秒處理近25萬次124點的FFT,對于持續(xù)時間不小于4.23us且位于實時帶寬2MHz內的任何信號,數字熒光頻譜圖中都能夠1%的測量并顯示該信號。將451信號/頻譜儀接上射頻天線,接收空間電磁信號,本例將接收手持式移動設備發(fā)送的WIFI和Bluetooth信號,在掃頻模式下和實時頻譜模式下的信號顯示分別如和6所示。
三、技術參數
輸出電流 三相測試:2*10A、2*5A、2*2A
單相測試:20A、10A、2A
測試范圍 2*10A:500μΩ~500mΩ
2*5A: 1mΩ~1Ω
2*2A: 2.5mΩ~2.5Ω
20A: 250μΩ~1Ω
10A: 500μΩ~2Ω
2A: 2.5mΩ~10Ω
分 辨 率 0.1μΩ
測量精度 ±(0.2%讀數+2字)
外形尺寸 420mm×250mm×340mm
儀器重量 15kg在福堡工廠,約有15名工人參與這個持續(xù)數周的整改過程。工廠HSE(健康、**與環(huán)境)經理JohnStapleford表示:“我們使用氣體泄漏檢測熱像儀主要是為了檢測管道系統的碳氫化合物氣體的排放,尤其是將法蘭襯墊附近的氣體泄漏降低到。”福堡工廠的設備經過整修后可能依然存在氣體泄漏,因此需要氣體泄漏檢測熱像儀進行檢測。氣體泄漏檢測熱像儀Bayernoil在其泄漏檢測和修復計劃中正采用的是菲力爾氣體泄漏檢測熱像儀。
面板介紹
1.IA、IB、IC、Io:電流輸出接線柱;
2.UA、UB、UC、Uo:電壓輸入接線柱;
3.電源開關:儀器的電源開關及;
4.接 地 柱:儀器**接地;
5.打 印 機:打印測試數據;
6.液 晶 屏:顯示測試數據,操作提示功能;
7.鍵 盤:『返回』對應的返回上一層菜單功能;
『確定』對應光標按鈕的執(zhí)行功能;
『存儲』對應測試項目的數據存儲;
『選擇』對應光標選擇菜單功能;
本文討論幾個能夠展示這種測試價值的例子。個例子是關于“擴頻時鐘發(fā)生器(SSCG)”的輻射特性,分別在“關”和“開”的狀況下對其掃描。在個例子中,設計團隊對比了代半雙工串行解串器(串行器/解串器)系統與代全雙工系統。結果驗證了新一代功能及其優(yōu)勢,不但幫助客戶縮短了產品上市時間,并在客戶中產生了積極的影響。極近場EMI掃描技術快速磁性極近場測量儀器可以捕獲和顯示頻譜和實時空間掃描結果的可視圖像。
六、儀器接線
6.1將電源線把儀器與外部AC220V電源連接,將接地端子與大地連接。
6.2然后依次將接線端子的四個測試鉗(黃綠紅黑)分別接到變壓器高壓側的A、B、C、O。也可以將接線端子的四個測試鉗(黃綠紅黑)分別接到變壓器低壓側的a、b、c、o,如果只有三個套管,可以不接黑色測試鉗,但這種情況不可以選擇三相同時測量和單相電阻測量,只能選擇單線電阻測量且不用再移動測試鉗。
6.3當選擇單相電阻測試時必須接黑色的測試鉗,當選擇單線電阻測試時,需注意所選的測試方式與所夾的測試鉗要一一對應。
6.4單相變壓器使用時將接線端子黃色和黑色的測試鉗接到單相變壓器的高壓側或低壓側,選擇單相電阻測試方式測量即可。
6.5儀器配套的測試線已經將電流、電壓線設計到同一測試鉗口上,接線簡單方便然后再使用另一條1m電纜從配線架連接到,所以從一個SMU到DUT的三芯同軸電纜的總長度是:(2x2m)+(2x5m)+(1m)=15m。除了三芯同軸電纜外,開關矩陣本身也增加了電容,在計算測試系統總電容時可能需要包括進去。在測量通過開關矩陣連接的FET器件的輸出特點時,使用兩個4211-SMU較使用兩個傳統SMU的結果明顯改善。在這項測試中,其中一個SMU被偏置恒定柵極電壓,另一個SMU掃描漏極電壓,測量得到的漏極電流。