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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A

  • 產(chǎn)品型號:HNDL
  • 產(chǎn)品廠商:華能
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
適用于JP柜,配電箱溫升試驗,電力系統(tǒng)技術(shù)人員檢驗電流互感器保護裝置及二次回路電流試驗。也可用于開關(guān),電纜、直流電流傳感器和其它電器設(shè)備作電流負載試驗及溫升試驗。直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A
詳情介紹:

HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓電源 直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A

直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A

聯(lián)系人車高平13608980122/15689901059輸入電壓:AC380V±10℅,50Hz訂貨時需提前說明
輸出電壓:0%--100%可調(diào)輸出 或 固定輸出
輸出電流:0%--100%可調(diào)輸出 或 固定輸出
電源效應 lt; 0.3% + 10mV
負載效應: < 0.1% + 10mV

直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A上召開了多次有關(guān)諧波問題的學術(shù)會議,不少和學術(shù)組織都制定了限制電力系統(tǒng)諧波和用電設(shè)備諧波的標準和規(guī)定。諧波研究的意義,道德是因為諧波的危害十分嚴重。諧波使電能的生產(chǎn)、傳輸和利用的效率降低,使電氣設(shè)備過熱、產(chǎn)生振動和噪聲,并使絕緣老化,使用壽命縮短,甚至發(fā)生故障或燒毀。諧波可引起電力系統(tǒng)局部并聯(lián)諧振或串聯(lián)諧振,使諧波含量放大,造成電容器等設(shè)備燒毀。諧波還會引起繼電保護和自動裝置誤動作,使電能計量出現(xiàn)混亂。
產(chǎn)品特點:
1、顯示:輸出電壓電流LED顯示(可按客戶要求加證D液晶顯示);
2、外觀:采用臺式、塔式或19英寸標準化尺寸,支持N+1冗余擴容,可組合放置于工作臺面及機架;
3、優(yōu)點:高頻PWM硬件調(diào)整軟開關(guān)控制技術(shù)使電源率,低紋波、低噪聲、高可靠性、體積小、重量輕;
4、恒壓恒流:輸出CC/CV恒壓恒流自動切換,電壓電流值從零到額定值連續(xù)線性調(diào)節(jié);
5、保護功能:過壓保護(OVP)、過流保護(OCP)、過溫保護(OTP)、欠壓保護、過載保護


福祿克網(wǎng)站提供齊全的SF6氣體檢漏熱像儀培訓工具,包括詳細步驟說明。“高壓電氣設(shè)備的SF6泄漏檢測一向是破壞性的操作,造成昂貴的設(shè)備及設(shè)備停工費用?!备5摽藷岢上袷聵I(yè)部經(jīng)理BrianKnight表示:“FlukeTi45SF6使這一過程方便到令人難以置信,能夠定期執(zhí)行泄漏檢測、發(fā)現(xiàn)問題,在定期維護期間即可修復泄漏問題?!盩i45SF6氣體檢漏熱像儀包含屢獲殊榮的LaserSharp激光自動對焦功能,利用內(nèi)置激光測距儀高準確度計算和顯示被瞄準目標的距離,實現(xiàn)瞬時對焦,呈現(xiàn)一貫圖像;儀器還采用了FlukeIR-Fusion技術(shù),將可見光圖像和紅外圖像組合在一幅圖像中,獲得更好清晰度。

功率直流電源主要由整流濾波電路,全橋變換電路,PWM控制電路,穩(wěn)壓、限壓電路,穩(wěn)流、限流保護電路,以及輔助電源電路等優(yōu)化組合而成。

本電源系列產(chǎn)品采用先進的IG逆變技術(shù),通過數(shù)字模擬閉環(huán)反饋,微處理器控制PWM脈寬控制器,控制能量輸出自由度高,恒流、恒壓精度高,動態(tài)響應速度快,承受沖擊帶載能力強,允許負載變化范圍大(短路/空載)。使得輸入電壓在電網(wǎng)的不斷變化和負載的變化之下,都能使輸出產(chǎn)生自適應并保持輸出電流和電壓恒定于設(shè)定值,從而確保電鍍生產(chǎn)線的運轉(zhuǎn)。

半導體生產(chǎn)流程由晶圓制造,晶圓測試,芯片封裝和封裝后測試組成,晶圓制造和芯片封裝討論較多,而測試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識經(jīng)常被邊緣化,下面集中介紹集成電路芯片測試的相關(guān)內(nèi)容,主要集中在WAT,CP和FT三個環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計、制造、封裝流程示意圖WAT(WaferAcceptanceTest)測試,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),對Wafer劃片槽(ScribeLine)測試鍵(TestKey)的測試,通過電性參數(shù)來監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定,CMOS的電容,電阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據(jù),測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上,由WATRecipe自動控制測試位置和內(nèi)容,測完某條TestKey后,ProbeCard會自動移到下一條TestKey,直到整片Wafer測試完成。直流大電流恒流源 HNDL 可編程交流開關(guān)穩(wěn)壓電源 1000A

停機時把調(diào)節(jié)旋鈕調(diào)至較小位置并切斷電源開關(guān),把啟動、停止開關(guān)撥至停止位置。

10.8、自動計時功能(500A以下自動機型才有):自動計時功能是檢測輸入電流是否大于5A,大于5A則開始記時,時控開關(guān)‘時控關(guān)’,到預置時間報警,并把電流降到10%額定電流以內(nèi),工件拿出后,時控不工作,待下一工件放下開始自動工作。當使用電流小于5A時


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