HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) 配電箱多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn) 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿(mǎn)足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。概述開(kāi)關(guān)系統(tǒng)是任何的測(cè)試系統(tǒng)中的關(guān)鍵的部分，它們?cè)试S客戶(hù)通過(guò)不用的方式來(lái)連接測(cè)試儀器和被測(cè)件，從而確保了在測(cè)試的過(guò)程中被測(cè)件的不同的部分可以連接到測(cè)試儀器中，從而減少了需要用來(lái)測(cè)試的儀器設(shè)備。很多用戶(hù)可能會(huì)想到開(kāi)關(guān)系統(tǒng)作為系統(tǒng)中的關(guān)鍵的部分，會(huì)由于原因而損壞，而不是因?yàn)殚_(kāi)關(guān)系統(tǒng)本身不可靠。因?yàn)殚_(kāi)關(guān)系統(tǒng)所處的位置是非常容易受損的，所以，意外的發(fā)生的可能性就更大了。開(kāi)關(guān)系統(tǒng)是基于繼電器開(kāi)關(guān)的，是屬于機(jī)械裝置，所以是有一定的使用壽命的，但是高性能的繼電器的使用壽命是很長(zhǎng)的。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿(mǎn)足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

同時(shí)，SPI也沒(méi)有多主器件協(xié)議，必須采用很復(fù)雜的軟件和外部邏輯來(lái)實(shí)現(xiàn)多主器件架構(gòu)。每個(gè)從器件需要一個(gè)單的從選擇信號(hào)。總信號(hào)數(shù)終為n+3個(gè)，其中n是總線(xiàn)上從器件的數(shù)量。導(dǎo)線(xiàn)的數(shù)量將隨增加的從器件的數(shù)量按比例增長(zhǎng)。同樣，在SPI總線(xiàn)上添加新的從器件也不方便。對(duì)于額外添加的每個(gè)從器件，都需要一條新的從器件選擇線(xiàn)或邏輯。圖2顯示了典型的SPI讀/寫(xiě)周期。在地址或命令字節(jié)后面跟有一個(gè)讀/寫(xiě)位。數(shù)據(jù)通過(guò)MOSI信號(hào)寫(xiě)入從器件，通過(guò)MISO信號(hào)自從器件中讀出。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶(hù)具體需求配置）

配電箱多回路溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 直流開(kāi)關(guān)試驗(yàn)電源 容量大 30年經(jīng)驗(yàn)RS-485接口的傳輸距離標(biāo)準(zhǔn)值為4000英尺，實(shí)際上可達(dá)3000米，另外RS-232-C接口在總線(xiàn)上只允許連接1個(gè)，即單站能力。而RS-485接口在總線(xiàn)上是允許連接多達(dá)128個(gè)。即具有多站能力,這樣用戶(hù)可以利用單一的RS-485接口方便地建立起設(shè)備網(wǎng)絡(luò)。但RS-485總線(xiàn)上任何時(shí)候只能有一發(fā)送器發(fā)送。因RS-485接口具有良好的抗噪聲干擾性，長(zhǎng)的傳輸距離和多站能力等上述優(yōu)點(diǎn)就使其成為的串行接口。