HNDL800 JP柜 配電箱溫升試驗(yàn)系統(tǒng) JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修 

聯(lián)系人車(chē)高平13608980122/15689901059用于箱變,配電箱額定電流溫升試驗(yàn)。溫升試驗(yàn)裝置技術(shù)性能需滿足根據(jù)GB/T11022、DL/T 593、GB/T 3906、DL/T 404等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行試驗(yàn)的要求。：用可控硅供電，其諧波分量使泄漏電流增大。若考核的是一個(gè)電路或一個(gè)系統(tǒng)的絕緣性能，則這個(gè)電流除了包括所有通過(guò)絕緣物質(zhì)而流入大地（或電路外可導(dǎo)電部分）的電流外，還應(yīng)包括通過(guò)電路或系統(tǒng)中的電容件（分布電容可視為電容件）而流入大地的電流。較長(zhǎng)布線會(huì)形成較大的分布容量，增大泄漏電流，這一點(diǎn)在不接地系統(tǒng)中應(yīng)特別引起注意。測(cè)量泄漏電流的原理測(cè)量與絕緣電阻基本相同，測(cè)量絕緣電阻實(shí)際上也是一種泄漏電流，只不過(guò)是以電阻形式表示出來(lái)的。

1.2 技術(shù)參數(shù)要求

恒流輸出電流：AC范圍 0到額定電流，連續(xù)可調(diào)， 且該輸出電流為真有效值（指負(fù)載被試開(kāi)關(guān)柜及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的試驗(yàn)附件， 可輸出的電流有效值， 電流穩(wěn)定輸出時(shí)間應(yīng)滿足工作時(shí)間要求）

輸出波形：標(biāo)準(zhǔn)正弦波

輸出頻率： 50Hz （+5%， -2%）

輸出電壓：0-6V，且連續(xù)可調(diào)

工作時(shí)間：大電流輸出不少于24小時(shí)

輸出相數(shù)：三相  多路

紅外測(cè)溫儀由光學(xué)系統(tǒng)、光電探測(cè)器、信號(hào)放大器及信號(hào)處理、顯示輸出等部分組成。被測(cè)物體和反射源的輻射線經(jīng)調(diào)制器解調(diào)后輸入到紅外檢測(cè)器。兩信號(hào)的差值經(jīng)反放大器放大并控制反饋源的溫度，使反饋源的光譜輻射亮度和物體的光譜輻射亮度一樣。顯示器指示出被測(cè)物體亮度溫度。紅外測(cè)溫儀所測(cè)的溫度是物體的輻射溫度而不是物體的實(shí)際溫度，由于黑體是不存在的，在同一溫度下實(shí)際物體熱輻射總量總比黑體輻射總量小，所以紅外線測(cè)溫儀測(cè)出的溫度肯定應(yīng)小于物體的真實(shí)溫度。

1.3 恒流源配置列表：（按照客戶具體需求配置）

JP柜溫升試驗(yàn)設(shè)備HNDL 配電箱溫升試驗(yàn)設(shè)備 容量大 5年保修EMI診斷在實(shí)驗(yàn)室使用普通的測(cè)試儀器即完成，帶有FFT功能的中示波器，普通的頻譜儀，近場(chǎng)，手藝好的工程師還可以自己制作性能良好的近場(chǎng)，對(duì)于很多較強(qiáng)的EMI輻射，某些回路過(guò)大的開(kāi)關(guān)電源，甚至只需要一根裸露的導(dǎo)線即可探測(cè)到空間中的擾信號(hào)。這種定性主要針對(duì)的是硬件設(shè)計(jì)人員，目的是要快捷簡(jiǎn)便，成本低廉，重復(fù)性好。圖2使用頻譜儀和近場(chǎng)進(jìn)行EMI診斷?EMI預(yù)兼容測(cè)試（PreCompliancEMI預(yù)兼容測(cè)試在產(chǎn)品原型和試產(chǎn)階段，一般要在產(chǎn)品級(jí)或系統(tǒng)級(jí)進(jìn)行預(yù)兼容（PreComplianc測(cè)試，預(yù)兼容并沒(méi)有一個(gè)明確的參考標(biāo)準(zhǔn)，就是盡量低成本地模擬兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，對(duì)EMI狀況進(jìn)行較正式的摸底，避免在正式的兼容測(cè)試中失敗。