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HNDL系列全自動大電流發(fā)生器測試系統(tǒng)大電流發(fā)生器 溫升試驗裝置 斷路器溫升測試儀 5年保修
是青島華能遠見有限公司自主研制開發(fā)的專業(yè)應用于母線槽、頻率50Hz開關(guān)、電流互感器和其它電器設備的電流負載速斷試驗及溫升試驗。則有效的保證了測試數(shù)據(jù)的準確性。整機測試單元包括:高精度毫秒計、真有效值電流表、電流傳感器(進口件)、調(diào)壓器、大功率升流器、微電腦控制器等部分。自動調(diào)壓輸出電流。其方法是將樣品固定在振動臺上,經(jīng)過模擬固定頻率(50HZ)、變頻(5-2KHZ)等振動環(huán)境進行試驗。在一定頻率范圍內(nèi)進行一次循環(huán)結(jié)束后,按規(guī)定進行檢驗。比如說氧化鋯氧氣含量儀,就必須避免振動和沖擊,實驗證明因為由于氧化鋯內(nèi)部鋯管極易受振動而損壞,氣體儀器就不能工作。沖擊試驗用以檢查儀器儀表經(jīng)受非重復機械沖擊的適應性。其方法是將樣品固定在試驗臺上用一定的加速度和頻率,分別在樣品的不同方向沖擊若干次。
特點
1、 采用10英寸真彩大液晶觸摸屏操作;測試無需外接任何輔助設備,全自動控制,式操作,簡單方便。
2、 帶有自動穩(wěn)流系統(tǒng),工控機可實現(xiàn)四遙控能
3、 采用當前電力電子技術(shù),抗干擾能力強,輸出精度高,紋波系數(shù)小于0.2%,準確度高于0.5%;。
4、 自動試驗只需設置好目標電流即可,無需人工監(jiān)控,僅需設定測試電流,省去手動調(diào)壓,減小勞動強度,提高工作效率。運行時間可自由設定
5、絕緣耐壓 1800/AC 1min, 絕緣等級:B級
AECANC測試系統(tǒng)是基于A2音頻儀器開發(fā)的一套兼顧ANC以及耳機聲學的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)支持FF,F(xiàn)B,Hybrid等不同降噪方案,可以根據(jù)客戶需要進行手動或自動測試耳機的被動降噪以及主動降噪曲線,自動化調(diào)整待測品增益以達到目標降噪效果,自動燒錄增益數(shù)據(jù)。測試系統(tǒng)穩(wěn)定性好,速度快,能有效解決研發(fā)或者產(chǎn)線降噪耳機測試問題。同時支持降噪耳機濾波電路曲線測試,普通藍牙耳機,TWS耳機,有線耳機等的所有相關(guān)聲學測試。
二、技術(shù)指標
1.輸入 交流50Hz , 380V。
2.可三相平衡的輸出0—20000A交流大電流。運行時段可自行設定。
3. 輸出開口電壓:0-20V.
4.電流精度 :各電流均可平滑平穩(wěn)連續(xù)可調(diào),精度高于0.5級.電流電壓表顯示為真有效數(shù)值,精度高、穩(wěn)定度高。
5.電流波形失真 THD 1% 設計標準遠遠高于國標<<GB14048.2-14>>.
6.保護設置 過流、過壓
7.絕緣阻抗 20兆歐
8.絕緣耐壓 1800/AC 1MIN
9.可測被測元件的電流動作時間。并可同步記錄鎖定動作時間。常開、常閉觸點自動判別。測時范圍:0.01S---99999.99s,精度;0. 01s.此外,利用不同檢測儀器中的共同部分,組成以以太網(wǎng)為傳輸手段的開放式數(shù)字信息處理平臺,可以把信號發(fā)生的控制、數(shù)據(jù)采集、系統(tǒng)軟件、可視化等通用部分共用。由于這種無損檢測集成技術(shù)對信號的綜合性要求較高,故必須為信息的傳輸提供高速的連接方式。階段:機電一體化集成技術(shù)自動化集成無損檢測技術(shù)的發(fā)展階段是機電一體化集成無損檢測技術(shù)。這是在儀器集成的基礎上,加上機電一體化的自動控制、檢測、判斷和結(jié)果處理等系列功能的智能自動化檢測系統(tǒng)。
三、操作方法
1、儀器接入380V電壓,在將儀器后面電流輸出端子與被測品接通構(gòu)成電流回路接線端子要緊固。面板上的常閉觸點要接到被測品的輔助常閉觸點上。
2、打開儀器側(cè)面空氣開關(guān),等待幾秒進入試驗選擇界面如下圖:
電流輸出線與常閉觸點接入后,注急停按鈕不要按下,直接按啟動按鈕,即可通過點擊觸控屏升降按鈕來調(diào)節(jié)電流輸出大小。(每次試驗結(jié)束后,都要按下面板歸零按鈕讓調(diào)壓器自動歸零位)。
2) 自動升流就選擇進入“自動試驗”界面如下圖:
自動試驗時,每次都要先選擇“參數(shù)設置”來設置輸出電流大小。做長時間運行可自由設定運行時間。如下圖:時間交錯技術(shù)可使用多個相同的ADC(文中雖然僅討論了ADC,但所有原理同樣適用于DAC的時間交錯特性),并以比每一個單數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器工作采樣速率更高的速率來處理常規(guī)采樣數(shù)據(jù)序列。簡單說來,時間交錯(IL)由時間多路復用M個相同的ADC并聯(lián)陣列組成。如圖1所示。這樣可以得到更高的凈采樣速率fs(采樣周期Ts=1/fs),哪怕陣列中的每一個ADC實際上以較低的速率進行采樣(和轉(zhuǎn)換),即fs/M。舉例而言,通過交錯四個10位/100MSPSADC,理論上可以實現(xiàn)10位/400MSPSADC。
1.在連接儀器測試線前,應先檢查各項調(diào)壓器是否歸零。急停按鈕是否關(guān)閉。
2.輸出電流2500A以上時,電流輸出線一定要緊固。試驗時間≤300s。一般來說,時鐘頻率跑的越快,則CPU每秒所能完成的運算次數(shù)就越多,性能自然更好,隨著時鐘頻率的增加,CPU就會變得越來越熱,這是CPU內(nèi)部CMOS管耗散功率加大的體現(xiàn),過高的溫度會影響系統(tǒng)的運行,所以有必要采取措施來“監(jiān)控”CPU的溫度,把它限制在一定溫度范圍內(nèi),以確保CPU的可靠運行。由于二極管制造工藝的性,我們可以利用二極管的伏安特性來測量CPU的溫度,它的伏安特性如下圖:,將PN結(jié)用外殼封裝起來,并加上電極引線就構(gòu)成了半導體二極管,簡稱為二極管。